Occasion HITACHI S-4700 Type II #9382370 à vendre en France

HITACHI S-4700 Type II est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM) utilisé pour l'imagerie, l'analyse et la mesure d'images de divers échantillons. Ce type de microscope utilise un faisceau focalisé d'électrons comme source, permettant un grossissement et une résolution extrêmement élevés jusqu'à 500 k ×. Le SEM hautement spécialisé fonctionne en mode à vide faible et élevé, et comprend de nombreuses caractéristiques pour profiter de l'augmentation des grandeurs de grossissement disponibles avec ce type de microscope. Sa conception consiste en un ensemble cathodique et colonne, une source d'électrons secondaires, une chambre d'échantillonnage et une lentille électromagnétique servant d'élément de focalisation. Avec une gamme de balayage allant jusqu'à 500 ㎛, HITACHI S 4700 TYPE II offre une large gamme de possibilités d'analyse d'échantillons et d'imagerie. Pour faciliter l'imagerie à fort grossissement, le S-4700 Type II dispose d'une source d'électrons d'émission en champ froid, de capacités analytiques sur l'axe et d'un large éventail de champs de vision. Les capacités d'analyse en ligne offrent une gamme étendue d'informations sur l'échantillon. Des analyses structurelles telles que la composition élémentaire, la topographie de surface, les superpositions, la structure cristallographique et la composition interne d'un matériau sont possibles en raison de la résolution ajoutée, de la force du signal et de la sensibilité. La résolution et le grossissement sur le S-4700 Type IIest des plus impressionnants. Les deux axes x-y et z sont capables de contrôler le positionnement de l'échantillon par rapport au faisceau d'électrons pour obtenir la plus grande précision de résolution. Un mode à vide faible permet un grossissement jusqu'à 5K ×, tandis qu'un mode à vide élevé entraîne un grossissement jusqu'à 500K ×. En plus de la haute résolution, le S-4700 Type II offre également la capacité d'imagerie dans une variété de vitesses. Cette gamme de vitesses permet une gamme de temps d'expérimentation possibles et la durée de vie de l'échantillon en raison des limites sur les dommages potentiels de l'électronique. Les analyses disponibles sur le S-4700 Type II comprennent l'acquisition automatique d'images STEM, le contrôle de l'intensité du signal, l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'analyse chimique par spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). Cette combinaison d'imagerie de haute qualité, de mobilité exceptionnelle et de capacité d'analyse complète est inégalée par tout autre système SEM. Utilisant la technologie FE-SEM la plus récente, la S-4700 Type IIest conçue pour ceux qui ont besoin d'une résolution et d'une efficacité maximales. Les caractéristiques et les capacités de la S-4700 Type II fournissent aux chercheurs, aux scientifiques et aux ingénieurs des résultats fiables et des images fiables dans l'industrie et en laboratoire. Sa technologie avancée et puissante fait de la S-4700 Type IIle choix parfait pour ceux qui recherchent l'imagerie de la plus haute qualité.