Occasion HITACHI S-4700 #150536 à vendre en France
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Vendu
ID: 150536
FE SEM
1.5 nm resolution at 15 kV, 12 mm WD
2.5 nm resolution at 1 kV, 2.5 mm WD
Magnification ranges: 30x to 500,000x
Specimen tilt at 12 mm WD up to 45°
Brightness: ~ 2 X 109 A / cm2/sr
Energy spread: 0.2 to 0.3 eV
Sample capacity: 100mm diameter x 17mm thick H maximum
Oil-free vacuum systems pump column and sample exchange
Image modes: secondary and backscattered electron images
(2) Secondary electron detectors: above and below objective lens
Digital image formats:
BMP, TIFF, JPEG at 640 X 480, 1280 X 960, or 1560 X 1920 pixels
Includes:
Non-cryo sample holders
CryoSEM observation using EMITECH K-1250 cryo stage
Backscatter imaging at TV rates and low voltage (threshold 2.5 kV on gold) with Autrata modified YAG (yttrium aluminum garnet, cerium doped) crystal
KEITHLEY specimen current detector
Applications:
High-resolution topographic contrast (Se) and atomic number contrast (BSe) imaging of biological and non-biological samples in both room temperature and cryo modes
Applicable to imaging of immunogold labeled individual cells and bacteria
Specifications:
Secondary electron image resolution
2.1 nm guaranteed (at 1 kV)
1.5 nm guaranteed (at 15 kV and W.D. 12 mm or X-ray analysis position)
Backscattered electron image resolution (optional)
3.0 nm guaranteed (at 15 kV YAG detector, optional)
Cold finger and specimen exchange chamber as standard. Allowing sample exchange via airlock without repositioning
Optional integrated EDX system with 30 degree take-off angle
Fully digital imaging, image processing and archiving system
Dual SE detectors for versatile imaging (SE and BSE)
ExB energy filter
Beam shift: +/-15um.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fait partie de la série S de SEM produites par HITACHI Ltd. HITACHI S 4700 est un SEM haute performance qui produit des images de haute qualité et dispose d'un certain nombre de fonctionnalités conviviales. S-4700 a un certain nombre de caractéristiques uniques qui en font un excellent choix pour l'utilisation dans les installations de recherche et d'enseignement. Il a un grand champ de vision (FOV), lui permettant de capturer des images de grands échantillons et des zones. Ses capacités de haute résolution et de contraste produisent des images détaillées et vives avec un bruit de fond minimal. Le mode pile d'images permet aux utilisateurs d'acquérir plusieurs tranches continues avec différents angles de vue et agrandissements. S 4700 est bien adapté pour une grande variété de types d'échantillons. Sa grande vitesse et sa puissante plage de grossissement (jusqu'à 1000x) le rendent adapté à l'observation de choses telles que les métaux et la céramique avec une résolution au niveau du nanomètre. Sa large gamme de réglages de tension (0.5kV-30kV) permet aux utilisateurs d'ajuster rapidement le microscope pour l'observation d'échantillons avec une variété de formes, de tailles et de matériaux. Les petites options de taches et de colonnes pour le faisceau d'électrons offrent une plus grande souplesse pour l'observation des échantillons. HITACHI S-4700 est également équipé d'un grand nombre de fonctionnalités conviviales. Son grand écran LCD et son interface tactile permettent d'accéder facilement à toutes les fonctions et paramètres du SEM. Son mode basse température, son système automatique de correction de la dérive et sa caméra autocentrée rendent le processus d'acquisition de données simple et sans tracas. En conclusion, HITACHI S 4700 est un SEM haute performance qui produit des images de haute qualité et dispose d'un certain nombre de fonctionnalités conviviales. Il est très polyvalent, permettant aux utilisateurs d'explorer un large éventail d'échantillons et de matériaux. Son grand champ de vision et sa puissante plage de grossissement le rendent adapté à des applications telles que l'observation des métaux et de la céramique avec une résolution au niveau du nanomètre.
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