Occasion HITACHI S-4700 #293586535 à vendre en France
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ID: 293586535
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
Main unit:
FE tip
(4) BARION Ion pumps
Turbo pump: BOC EDWARDS STP 301H
Stage: Type 2 (5 Axis motor)
(2) SE Detectors
Ion pump power: Electron
EDS, EDAX (Normal operation) included
Display unit:
Monitor: LG LCD 19"
HP COMPAQ Deskpro computer
Stage control
Image control panel
HP 101 Key board (English)
Operating system: Windows 95
Utility:
(2) HITACHI Rotary pumps
Auto transformer (Type: 4F500-648)
Capacity: 7 kVA
(2) Pumping hoses
Antivibration table
Rotary pump
Control panel
Joy stick
Key board
1998 vintage.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des performances élevées, une facilité d'utilisation et un bon rapport coût-efficacité. Il a des performances analytiques élevées pour un large éventail d'échantillons et d'applications en raison de sa pression variable, de son fond bas et de sa longue distance de travail. L'instrument dispose d'un canon à émission de champ qui a un courant de faisceau bas, taille de tache de faisceau bas, haute stabilité et une lentille de canon efficace. Cela permet l'imagerie précise et haute résolution d'un large éventail d'échantillons et d'applications. Il supporte également le balayage à haute vitesse du faisceau d'électrons, qui permet l'imagerie SEM rapide et l'analyse d'un échantillon. Le microscope électronique à balayage a un étage contrôlé par ordinateur avec des fonctions automatisées avancées pour faciliter l'alignement et le relevé précis des échantillons. Il possède également un environnement de chambre à vide qui permet d'analyser et d'imager des échantillons sans débit de gaz extérieur ni pression de fond. Une autre caractéristique de HITACHI S 4700 est son système de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). Ceci est utilisé pour collecter et analyser les spectres élémentaires de l'échantillon en cours d'imagerie. Il utilise un détecteur de dérive de silicium (SDD) pour l'analyse intense et précise des rayons X. Ceci fournit des informations sur la composition élémentaire de l'échantillon sans préparation d'échantillon. Il a également une bibliothèque intégrée pour la comparaison des matériaux pour l'identification rapide et précise des matériaux inconnus. S-4700 est conçu pour un large éventail d'applications, y compris les matériaux, la recherche biologique, pharmaceutique et d'appareils. L'instrument est équipé pour fournir la résolution de l'image en haut de la ligne, la clarté, la résolution et la précision de l'image. Il peut également être utilisé pour créer des données d'analyse qualitative et quantitative des échantillons. Il convient aux utilisateurs avancés et débutants, ce qui en fait un système économique et polyvalent.
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