Occasion HITACHI S-4700 #293632285 à vendre en France
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ID: 293632285
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6"
Electron gun: Cold field emission type
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction method
Objective lens: Movable aperture
Correction coil: 8-Pole electromagnetic system
Scanning coil: 2-Stage
Type II Sample fine movement device
Secondary electron resolution:
1.5 nm Acceleration voltage: 15 kV, WD: 12 mm
2.1 nm Acceleration voltage: 1 kV, WD: 2.5 mm
Magnification:
LM Mode: 20-2,000x
HM Mode: 100-500,000x
5-Axis motor driving:
X: 0~100 mm
Y: 0~50 mm
Z: 2.5~30.0 mm
T: -5°~60°
R: 360°
Detector:
Secondary electron detector
Ultra-sensitive reflected electron detector
Energy dispersive X-ray detector
Scan mode:
Normal scan
Selected area scan
Line scan
Photo scan
Spot position
Average concentration distribution
Dual mug / split
Oblique
PC: Pentium 32 MHz or higher
RAM: 32 MB or more
HDD: 2.4 GB or more
Operating system: Microsoft Windows NT
Color monitor, 17"
CRT, 7"
Signal processing:
Real-time image display
Automatic image adjustment (Brightness, contrast)
Gamma control
Derivative image display (Contour enhancement)
Inverted image display
Autofocus (AFC)
Auto stigma
Memory: 2560 x 1920
Image integration
Contrast conversation
Color display
Beam blanking
Raster rotation / tilit competition
Scanning speed: TV, slow 0.5-40s/frame
Electrical field of view movement: ± 15 µm (when WD= 12 nm)
Frame capacity:
1280 x 960
640 x 480
2560 x 1920
Display size:
Standard: 640 x 480
(2) Screen displays:
512 x 480
Full 1024 x 700
Digital beam control
Pre-processing related:
YAG Type reflected electron detector
Energy dispersive X-ray analyzer
E-1030 Mild sputtering equipment
Multi-prep system
Ethernet network interface
Video amplifier unit
Photomal power supply unit
Acceleration voltage: 0.5–30 kV (0.1 kV step)
2000 vintage.
HITACHI S-4700 est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour répondre aux normes les plus élevées en imagerie. Avec son processeur de signal intégré, HITACHI S 4700 produit des images haute résolution, même à faible grossissement. Les moteurs de balayage puissants et précis de S-4700 assurent également une imagerie rapide et précise. La S 4700 est équipée d'un étage de colonne à trois étages qui offre une large gamme de capacités de grossissement. Il comprend également un condenseur à double étage et des objectifs pour s'assurer que les images sont toujours vives et claires. L'ensemble de fenêtre ultra-mince du HITACHI S-4700 et le système d'imagerie numérique lui permettent d'obtenir le contraste et la résolution les plus élevés pour une variété d'échantillons. HITACHI S 4700 dispose de deux détecteurs distincts qui sont utilisés pour la détection des électrons secondaires. En mode imagerie, les électrons secondaires sont recueillis sur le détecteur, tandis qu'en mode énergie dispersive des rayons X (EDX), un faisceau parallèle de rayons X est utilisé pour exciter l'échantillon. Les informations recueillies sont ensuite converties en images. S-4700 est capable de capturer différentes formes géométriques et niveaux de détail. En outre, la fonction de prévisualisation en direct intégrée permet aux utilisateurs de faire des ajustements et de revoir les images en temps réel, réduisant le temps d'imagerie et améliorant la précision globale. S 4700 dispose de deux pompes à vide interne qui permettent des performances à vide faible. Cette caractéristique est bénéfique lorsque vous travaillez avec des échantillons qui nécessitent de faibles pressions. Le fonctionnement à basse pression augmente également la sécurité des utilisateurs, car il élimine les possibilités d'explosions. HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage de haute qualité capable de réaliser des images extrêmement détaillées. Avec ses capacités d'imagerie avancées, HITACHI S 4700 est un choix parfait pour une variété d'applications, allant de l'analyse des matériaux aux semi-conducteurs
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