Occasion HITACHI S-4700 #293648637 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 (SEM) est un SEM polyvalent, compact et convivial conçu pour faciliter et accélérer l'imagerie de précision. Il est intégré avec une gamme de fonctionnalités avancées qui rendent l'opération, l'acquisition de données et l'analyse plus facile que jamais. Il est idéal pour une utilisation dans un large éventail d'applications telles que la recherche sur les matériaux, la nanotechnologie, le contrôle de la qualité des produits industriels, l'ingénierie et la recherche universitaire. HITACHI S 4700 SEM dispose d'une seule colonne électronique quadrant avec un étage 3 axes et un système de spectroscopie à rayons X dispersif (EDS). Cette conception permet l'imagerie simultanée, l'automatisation et l'analyse. Il offre une haute vitesse, haute résolution, imagerie de grand champ et la navigation sur une grande zone 5K x 7K. S-4700 SEM dispose également d'EDX bi-mode qui permet aux utilisateurs de basculer rapidement entre un mode avancé de spectroscopie de bas fond pour la cartographie et l'analyse élémentaire à haute résolution, et un mode rapide « analyse ponctuelle » pour une analyse rapide et confiante. La conception ergonomique de la S 4700 facilite sa mise en place et son fonctionnement. L'interface conviviale intégrée rend plus facile que jamais de profiter de ses fonctionnalités puissantes et de ses fonctions avancées. Le microscope peut également être directement connecté à un appareil LAN ou USB, permettant aux utilisateurs de se connecter à des systèmes de stockage de données à distance ou de résolution de problèmes. HITACHI S-4700 SEM offre des capacités d'imagerie et d'analyse haute performance et d'automatisation avancée. Son émetteur de faisceau directionnel permet une imagerie haute vitesse et une stabilité inhérente de 3,2 nanomètres et une résolution de 1 nm en conditions optimales. La conception à faible bruit garantit la qualité de l'imagerie et permet une vitesse d'imagerie maximale de 1000fps. De plus, sa grande surface 5K x 7K le rend idéal pour la résolution de motifs dans des échantillons à grande échelle et pour des applications avancées qui nécessitent un champ de vision plus grand. HITACHI S 4700 SEM tire le meilleur parti de la technologie reflétante numérique S-4700 avancée, en présentant l'acquisition de données robuste, le traitement, en reflétant et l'automation. Les utilisateurs peuvent facilement contrôler l'acquisition, la visualisation et le traitement des images. Ils peuvent également utiliser des fonctions d'imagerie de gabarit et de fonctionnement numérique pour améliorer l'efficacité et l'analyse rapide des échantillons à grande échelle. S 4700 SEM est un choix idéal pour des applications allant de la recherche sur les matériaux et les nanotechnologies au contrôle de la qualité des produits industriels, l'ingénierie et la recherche universitaire. Avec ses fonctionnalités intégrées, il est un outil efficace et rentable pour l'imagerie, l'analyse et l'automatisation rapides et précises.