Occasion HITACHI S-4700 #293648639 à vendre en France

ID: 293648639
Taille de la plaquette: 4"-6"
Style Vintage: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM), 4"-6" 1999 vintage.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est souvent utilisé pour l'imagerie haute résolution ainsi que pour les tâches d'émission sur le terrain et d'analyse. Ce SEM est très adapté aux applications éducatives et de recherche, car il est réputé pour sa qualité, sa fiabilité, sa précision et sa répétabilité. HITACHI S 4700 est équipé d'un détecteur de signal électronique rétrodiffusé, qui a une efficacité de collecte de signal de 98 %, et rend la détection de signal faible beaucoup plus sensible. Ce système est également capable de détecter une large gamme d'intensités de signal, ce qui le rend capable de capturer des images de haute qualité. S-4700 est conçu pour fournir un haut niveau de performance tout en nécessitant un entretien minimal. Le système dispose d'une tension maximale d'accélération de 10 kV à 32 kV, permettant aux utilisateurs de visualiser même les détails structurels les plus délicats des échantillons non conducteurs. Le SEM est également équipé d'un SDD unique (détecteur électronique secondaire) pour l'imagerie haute performance et l'analyse détaillée. S 4700 comprend également des capacités automatisées de préparation d'échantillons, minimisant la participation de l'utilisateur aux processus de routine. Ce SEM est capable d'effectuer le nettoyage automatique, l'alignement, le basculement et le réalignement des échantillons, améliorant la précision et la sensibilité des données. HITACHI S-4700 est également équipé d'une variété de fonctionnalités supplémentaires, telles qu'un capteur d'image haute résolution, un joystick de navigation et un logiciel d'imagerie avancé pour un meilleur contrôle sur le processus de données et d'analyse. HITACHI S 4700 comprend un contrôleur de courant de sonde très polyvalent qui peut être utilisé pour ajuster la quantité de courant de sonde, permettant aux utilisateurs de surveiller l'état de leur échantillon. S-4700 est un choix idéal tant pour la recherche que pour l'enseignement. Ses performances avancées et sa fiabilité sont inégalées, tandis que ses caractéristiques et sa conception en font un excellent ajout à n'importe quel laboratoire. Ce SEM fournit des niveaux sans précédent de précision, de détail et de perspicacité dans les matériaux non conducteurs.
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