Occasion HITACHI S-4700 #293651678 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 (SEM) est un appareil unique doté de puissantes capacités d'imagerie, d'analyse et d'inspection à l'échelle des minutes. Il utilise des faisceaux d'électrons pour obtenir une imagerie de surface exceptionnellement haute résolution. Avec une tension d'accélération maximale de 30 kV, HITACHI S 4700 utilise plusieurs modes d'imagerie, permettant l'inspection et la classification des semi-conducteurs, l'analyse des défaillances, l'analyse des particules et l'analyse de surface. La chambre à spécimen est bien conçue pour la facilité d'utilisation. Avec une pression de base de 2,0 x 10-4 Pa, les mesures et les collectibles peuvent être obtenus rapidement avec peu d'efforts. La chambre dispose également d'un logiciel de filtrage mobile qui élimine la plupart des électrons diffusés générés par les détecteurs de vibrations. En outre, la chambre est livrée avec un Ion Beam Path Configurator (IBPC) qui permet aux utilisateurs d'ajuster facilement les trajectoires du faisceau pour optimiser les images avec précision. S-4700 est capable non seulement d'obtenir des informations topographiques, mais aussi d'effectuer une analyse élémentaire. À l'aide d'un spectromètre dispersif d'énergie (EDS), le SEM balaie la surface d'un échantillon et détecte les rayons X détectables émis à l'aide d'un détecteur à l'état solide. Cette méthode peut analyser la chimie des échantillons dans une variété de matériaux, avec une résolution très précise. Bien que le S 4700 soit livré avec une large gamme d'accédants, l'attache la plus complète est une colonne de particules chargées (CPC), qui permet de scanner les échantillons en 3 dimensions, permettant l'analyse la plus précise de certains échantillons. HITACHI S-4700 est un outil puissant pour les spécialistes des matériaux et les ingénieurs qui ont besoin de capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution à petite échelle. Avec les caractéristiques robustes de HITACHI S 4700, c'est un excellent choix pour obtenir des images détaillées ainsi que des analyses élémentaires, cet appareil fonctionne très bien pour effectuer une analyse dynamique, une analyse de défaillance, la détection de défauts et une large gamme d'autres applications de personnalisation.