Occasion HITACHI S-4700 #293722591 à vendre en France
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Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 est un instrument de haute performance conçu pour l'imagerie d'échantillons dans des applications à vide faible ou élevé. Il offre d'excellentes capacités d'imagerie qui permettent aux utilisateurs de capturer des images détaillées d'échantillons microscopiques. Le puissant équipement d'optique dispose d'un miroir elliptique qui fournit une ouverture numérique élevée et une grande profondeur de focalisation. Cela le rend idéal pour l'imagerie d'une grande variété de spécimens, y compris des échantillons biologiques, des composites et des matériaux. L'instrument dispose également d'un grand système de détection composé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusé (BSED) et d'un détecteur d'électrons secondaire (SED), ainsi que d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. Les deux détecteurs permettent à l'utilisateur de saisir à la fois les détails de surface et les données internes de l'échantillon. En plus de fournir une excellente qualité d'image, le microscope HITACHI S 4700 offre également une large gamme de fonctionnalités pour assurer un fonctionnement efficace. Son unité d'auto-alignement réduit le temps de réglage et assure l'alignement automatisé de l'axe du microscope sur l'échantillon. Sa machine de gestion intégrée des colonnes offre une large gamme de conditions de pression variable pour différents types d'échantillons. En termes de capacités d'imagerie, S-4700 est capable de produire des images SEM à une résolution de 1nm, et les images peuvent être post-traitées avec des outils avancés de traitement d'images. Il dispose également d'un analyseur de surface intégré qui prend en charge l'analyse d'image automatisée. Avec son design robuste, ses excellentes capacités d'imagerie et son puissant ensemble de fonctions, le microscope électronique à balayage S 4700 est devenu un instrument de confiance dans les laboratoires du monde entier. Sa capacité à capturer des images détaillées de structures microscopiques, dans des conditions de vide faible et élevé, fournit aux chercheurs un puissant aperçu de leurs spécimens.
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