Occasion HITACHI S-4700 #293752281 à vendre en France

ID: 293752281
Scanning Electron Microscope (SEM) OXFORD Detector.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 (SEM) est un instrument d'imagerie avancé conçu pour fournir une imagerie fiable et haute résolution des surfaces d'une grande variété d'échantillons. Il est capable d'imiter des échantillons avec des résolutions aussi petites que 10 nanomètres. Les composants clés de HITACHI S 4700 sont la colonne électronique, l'étage, la chambre de prélèvement, le détecteur et le logiciel d'imagerie. La colonne d'électrons génère un faisceau d'électrons qui sont balayés sur l'échantillon, qui peut être manipulé selon trois axes par l'étage. La chambre d'échantillon est équipée de systèmes de vide qui maintiennent une faible pression de la chambre pendant l'observation de l'échantillon. Ceci est nécessaire parce qu'un échantillon dans l'air ne conduira pas correctement les électrons. En contrôlant l'environnement de l'échantillon, S-4700 peut détecter avec précision le faisceau d'électrons et former une image haute résolution. S 4700 est équipé de détecteurs multiples pour observer l'échantillon sous différents angles. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un spectromètre dispersif d'énergie pour l'analyse élémentaire et d'un détecteur de cathodoluminescence pour la détection de luminescence à partir d'échantillons. Les détecteurs permettent à HITACHI S-4700 de collecter différents types d'images d'électrons et d'effectuer une analyse élémentaire en même temps. En outre, HITACHI S 4700 est capable d'un fonctionnement automatisé à l'aide de l'étape de spécimen et du logiciel. L'utilisateur peut programmer le motif d'analyse et l'agrandissement, ainsi que les conditions fixées pour la collecte automatisée d'images. Le fonctionnement automatisé de S-4700 permet d'obtenir efficacement des images de haute qualité. S 4700 est un microscope électronique à balayage sophistiqué qui est capable de capturer des images à haute résolution d'échantillons complexes tout en offrant de puissantes capacités d'analyse. En contrôlant la colonne d'électrons et les détecteurs, l'utilisateur peut observer les échantillons de diverses manières et obtenir des informations sur leurs structures et compositions. Il s'agit donc d'un outil précieux pour la recherche et le développement dans de nombreux domaines scientifiques et industriels.
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