Occasion HITACHI S-4700 #293752650 à vendre en France

HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une combinaison unique de capacités d'imagerie, de caractéristiques de haute performance et de facilité d'utilisation. C'est un instrument très polyvalent qui fournit un large éventail de micrographies électroniques de diverses disciplines, y compris la science des matériaux, la géologie, les sciences de la vie, les semi-conducteurs et d'autres industries. Pour commencer, HITACHI S 4700 est équipé d'une gamme impressionnante de sources d'éclairage pour une gamme de modes d'imagerie tels que SE, ESB, STEM et DSE. Cela permet une plus grande flexibilité dans les applications d'imagerie qui nécessitent un large éventail de contrastes et de résolutions. La puissante source d'électrons à balayage extractible (ESS) offre un niveau de fonctionnement inégalé avec une tension d'accélération maximale de 30 kV et un champ magnétique pouvant atteindre 20 kG. En outre, le SSE permet de prendre les images à la plus haute résolution dans la plus large gamme d'échantillons et de les préparer à une analyse d'image avancée. En plus de la gamme impressionnante de capacités d'imagerie, la technologie de pointe de S-4700 a des capacités avancées de calcul et d'analyse. Ce logiciel intégré a amélioré les capacités d'analyse structurale et chimique pour permettre des mesures plus complexes. De plus, l'étage d'échantillonnage intégré permet un positionnement rapide et précis de l'échantillon, avec une capacité d'inclinaison jusqu'à 15 degrés et un changeur d'échantillon jusqu'à 11 échantillons. D'autres caractéristiques comprennent un système d'autofocus, une opération d'analyse spectrale automatisée et un système de détection intégré qui comprend deux détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) et un détecteur d'électrons secondaire (SE). Dans l'ensemble, le S 4700 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui est convivial et offre une large gamme de capacités d'imagerie. L'appareil est idéal pour la recherche et les besoins de l'industrie, avec sa puissante sonde de balayage, ESS et des capacités de calcul et d'analyse améliorées. En conséquence, ce SEM permet l'imagerie complexe et précise d'un large éventail d'échantillons et d'applications.