Occasion HITACHI S-4700 #293805119 à vendre en France

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement de microscopie à grande échelle à impact élevé qui est utilisé par les laboratoires de recherche pour l'image d'une large gamme d'échantillons avec une résolution supérieure à 0,2 nanomètres. Ce système combine une source d'électrons haute tension, une grande chambre d'imagerie, un appareil photo numérique haute résolution et un logiciel d'imagerie innovant pour permettre aux chercheurs de visualiser même les plus petits détails de leurs échantillons. HITACHI S 4700 SEM utilise une source d'électrons à champ froid d'émission thermionique pour fournir un faisceau d'électrons de haute énergie avec une large gamme d'angles d'atterrissage. Cela permet aux chercheurs de se concentrer sur les caractéristiques profondes de l'échantillon. La chambre d'imagerie fournit un environnement sous vide élevé pour l'échantillon, l'isolant des particules d'air ambiant. Il est également équipé d'une coupe Faraday pour mesurer la densité du courant électronique et d'un large éventail de fonctions d'alignement automatisées pour assurer la stabilité de l'image. S-4700 SEM est capable de générer des images à des niveaux de grossissement élevés avec des rapports de grossissement allant jusqu'à 1000x. Le grossissement est commandé par la tension du canon à électrons et les ouvertures réglables de la lentille. À des grossissements plus élevés, il peut générer des images superposées pour distinguer différentes couches de l'échantillon. De plus, la chambre de prélèvement est équipée d'un obturateur pour bloquer activement le faisceau d'électrons et réduire les dommages de l'échantillon. Pour acquérir des images, le S 4700 utilise un appareil photo numérique de 1024x1024 pixels, qui peut capturer des images en mode champ lumineux et en mode champ sombre. Ces images sont ensuite transférées à l'ordinateur de l'utilisateur, où elles peuvent être analysées avec divers logiciels d'analyse d'images sophistiqués. De plus, HITACHI S-4700 SEM peut également être utilisé pour étudier la composition chimique des échantillons à l'aide de diverses techniques de détection, telles que l'analyse élémentaire EDX, la cartographie STEM et la microanalyse des rayons X. De plus, l'unité offre des options pour mesurer les échantillons dans une variété de modes de contraste, y compris les électrons secondaires à contraste régulier et élevé, et les électrons rétrodiffuseurs (ESB). En conclusion, HITACHI S 4700 Scanning Electron Microscope est un outil d'imagerie puissant, polyvalent et fiable conçu pour répondre aux besoins des laboratoires de recherche. En combinant une source d'électrons à haute énergie, une chambre d'imagerie à vide élevé et une machine de détection polyvalente, cet outil permet aux chercheurs de visualiser et d'analyser des échantillons avec des détails et une précision inégalés.