Occasion HITACHI S-4700 #293808759 à vendre en France
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ID: 293808759
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
EDAX X-Ray
Centaurus detector
XFlash detector
IBSS GROUP CV10X-DS Asher
Manuals
PC
Accessories.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une gamme d'applications dans les milieux de la recherche et de l'enseignement. Il dispose de capacités d'imagerie et d'analyse de pointe, tout en offrant une plate-forme pour le développement de nouvelles applications. HITACHI S 4700 dispose d'un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille, avec un intervalle vertical entre le détecteur et la chambre d'échantillonnage, permettant à l'utilisateur de contrôler la distance entre les deux. Cela améliore encore la précision de l'imagerie et de l'analyse, ainsi que la protection de l'échantillon contre les facteurs externes. Grâce à son filtre à énergie intégré, l'instrument est capable de déterminer avec précision les éléments d'un échantillon. Il dispose également d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés avec un rapport signal sur bruit de 30 000:1, ce qui permet une acquisition rapide et précise des images. S-4700 possède un étage cryogénique très sensible et un détecteur à cathode froide à haute couverture. Ces caractéristiques permettent des mesures de rayons X perpendiculaires, une analyse élémentaire précise et un champ de vision pouvant atteindre 1,5 mm. Le microscope peut également fonctionner à des températures de fonctionnement allant jusqu'à -196 ° C, et fournit une imagerie simultanée de grands échantillons. Cela permet d'enregistrer des images rapides et résolues spatialement sur une large plage de température. Pour améliorer encore la précision et la résolution des mesures, le S 4700 dispose d'un système informatique intégré qui peut stocker et traiter des images. En utilisant une variété de filtres, le système peut ensuite traiter les images pour améliorer encore leur précision. L'instrument est également livré avec une suite logicielle qui comprend des outils tels que la couture d'images et des reconstructions 3D. Grâce au piquage d'images, les chercheurs peuvent fusionner plusieurs images en une seule vue panoramique, tandis que les reconstructions 3D permettent la création de modèles tridimensionnels de l'échantillon. En outre, HITACHI S-4700 est livré avec une large gamme d'accessoires, tels que des porte-échantillons et des étages, des cellules d'échantillonnage, des sources d'électrons, et des systèmes de contrôle de rétroaction électrique. Grâce à ces fonctionnalités, les utilisateurs peuvent optimiser leurs expériences pour obtenir les meilleurs résultats possibles. HITACHI S 4700 est un microscope électronique à balayage très avancé qui offre des performances, une précision et une flexibilité inégalées. C'est l'outil parfait pour les utilisateurs exigeants, offrant des capacités d'imagerie inégalées avec un maximum de commodité.
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