Occasion HITACHI S-4700 #293813489 à vendre en France

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument plancher conçu pour l'imagerie haute résolution. Il dispose d'un design de nouvelle génération STEM dans l'objectif avec une pièce polaire et des lentilles capillaires wehnelt, un affichage volt et courant haute résolution, un équipement auto-focus qui permet la focalisation sur une distance de travail de 180 mm, et un flux de travail d'imagerie avancé avec un étage de haute précision. Le détecteur HITACHI S 4700 est composé d'un système de vision de la machine rétrodiffusée qui a une résolution de 30nm et un zoom optique de cinq mégapixels et comprend une caméra couleur de haute qualité pour enregistrer les tâches d'imagerie de l'utilisateur. L'unité d'acquisition et de suivi automatisé des faisceaux (ABAT) permet à l'utilisateur de focaliser et de suivre automatiquement le faisceau sur le matériau cible et, lorsqu'elle est combinée avec la machine de centrage automatique des faisceaux (BAC) et le transfert rapide de données, elle fournit une imagerie haute résolution avec vitesse et précision. La lentille principale de S-4700 est composée d'une combinaison de lentilles intérieure et extérieure de 12,5 pouces. La lentille interne, ou wehnelt, est une lentille de pièce polaire à haute résolution qui améliore la sensibilité de détection, déterminant la propagation du point et fournissant une imagerie à haute résolution. La lentille extérieure crée un champ électrostatique très uniforme pour assurer un éclairage stable à basse tension. Le résultat global est un outil objectif qui est précis, rapide, et fournit une imagerie haute résolution des détails fins. S 4700 est également équipé d'un outil de balayage multi-modes donnant à l'utilisateur un contrôle précis et rapide sur la taille de la fenêtre du faisceau, la vitesse de balayage et la luminosité de l'image. Ceci est particulièrement utile lors de l'imagerie de très petites cibles comme les nanofibres et d'autres types de nanoparticules. Avec le modèle de balayage multi-modes, l'utilisateur peut ajuster la largeur et l'intensité du faisceau pour obtenir des détails sans précédent aux niveaux micro et nano. Enfin, HITACHI S-4700 est largement utilisé dans la recherche haut de gamme et a la capacité de produire des images étonnantes du monde sub-micron. Des interfaces telles que le Digital Interface Equipment (DIS) et des systèmes avancés de résolution de points permettent aux utilisateurs de collecter des données rapidement et avec précision. Couplé aux fonctions automatisées de suivi des faisceaux et de centrage automatique, le HITACHI S 4700 offre des performances d'imagerie inégalées pour un large éventail d'applications.