Occasion HITACHI S-4700 #293815654 à vendre en France

HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) réputé pour sa superbe résolution d'image et ses capacités 3D. Il est disponible en deux configurations ; HITACHI S 4700 type II pour l'imagerie SEM générale et S-4700 FESEM pour l'imagerie à très basse tension. La résolution d'image est parmi les meilleures de sa catégorie, avec une longueur d'onde électronique de 0,018nm et une résolution d'énergie primaire de 0,9nm. S 4700 dispose également d'une capacité facultative d'imagerie de tranchées profondes qui peut représenter des tranchées d'une profondeur allant jusqu'à 100nm. HITACHI S-4700 est exploité par une interface informatique simple et intuitive. Le système supporte plusieurs modes de fonctionnement, y compris des images standard d'électrons secondaires, d'électrons secondaires ultra-basse tension, d'électrons rétrodiffusés, d'EDX et de détecteurs d'ESB. HITACHI S 4700 est conçu pour faciliter la préparation des échantillons et permettre une imagerie rapide et à haute résolution. Il dispose d'un étage d'échantillon haute tension/inclinaison et peut accueillir des échantillons jusqu'à 200mm de diamètre. Le système dispose également d'une chambre de préparation sous vide et d'un filtre à balayage à pression variable. S-4700 fournit des vitesses d'acquisition de données allant jusqu'à 70 images par seconde, permettant aux utilisateurs de capturer des images tridimensionnelles avec une clarté et un détail exceptionnels. Les images ont une résolution maximale de 5nm, permettant aux utilisateurs de voir les détails fins de leurs échantillons. S 4700 est équipé d'un module de spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDX) pour l'analyse élémentaire. Le module est capable de réaliser une variété d'analyses de haute précision, y compris l'analyse de traces, l'analyse multi-éléments et l'analyse quantitative. HITACHI S-4700 est un système d'imagerie haute performance adapté à un large éventail d'applications. Il est idéal pour la recherche en nanotechnologie, la science des matériaux, l'analyse des défaillances et l'analyse des circuits semi-conducteurs.