Occasion HITACHI S-4700 #9058859 à vendre en France
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Vendu
ID: 9058859
Style Vintage: 1998
Field emission scanning electron microscope (FE SEM)
Type I
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 12 mm 1.5 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 2.5 mm 2.5 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (in 100V steps)
Lens: 3-stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture: Moveable aperture
(4) Openings selectable / Align-able outside column
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil (Stigmator): Electromagnetic type
Scanning coil: 2-stage electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse o to 25 mm (Continuous)
Y Traverse o to 25 mm (Continuous)
Z Traverse 2.5 to 27.5 mm (Continuous)
Tilt -50 to +450
Rotation: 3600 (Continuous)
Specimen size (Airlock type specimen exchange)
Maximum: 100 mm (Diameter)
Display unit:
Display type: Flicker- free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 17
Color: 1024 x 768 pixels
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm)
Scanning modes: Normal
Reduced area
Photo
Split/Dual magnification
Line
Position setting
Spot
AAF (Analysis Area Finder)
SAA (Selected Area Analysis)
Scanning speeds: Fast
Slow: 0.5 to 40 see for frame viewing
For photo mode: 20/17, 40/33, 80/67, 160/167, 320/333
Fast: NTSC or PAL signal Value of (50 HZ)/(60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Film number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date / Time and working distance
Data entry:
Alphanumeric characters
Numbers and marks can be written on image from keyboard
Electrical image shift: +/- 15um (WD = 12mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber 7 x 10'4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1 2 x 10'7 Pa
IP-2 2 x 10'6 Pa
IP-3 7 x 10'5 Pa
Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Oil diffusion pump
Turbo molecular pump (option)
(2) Oil rotary pumps
Oil-less type compressor
Protection devices:
Warning devices power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Others:
Acoustic noise Less than 65 dB
Dielectric voltage-withstand: 1500VAC/1min
No EDX
1998 vintage.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour une gamme d'applications à haute performance. Le microscope combine une imagerie haute résolution et grossissement avec un large éventail de modes d'observation de spécimens. HITACHI S 4700 dispose d'un système de contrôle redessiné, appelé SmartMeister, qui optimise l'expérience de fonctionnement et d'acquisition de données. L'interface conviviale de SmartMeister est conçue pour rendre le processus complexe d'analyse de données plus facile à comprendre et permet aux utilisateurs de faire des ajustements rapides aux conditions d'imagerie. L'instrument est équipé d'une chambre à vide variable, qui assure une observation précise des échantillons tout en conservant un haut degré de résolution d'image. La chambre à vide variable permet également de réduire significativement la contamination en empêchant l'entrée d'air dans la chambre. S-4700 permet l'imagerie haute résolution avec résolution à l'échelle du nanomètre et grossissement jusqu'à 300.000x. L'instrument intègre également un large éventail de fonctions de contrôle et d'analyse, y compris des logiciels d'analyse avancés qui peuvent être personnalisés pour répondre à diverses exigences. Le microscope comprend des modes d'observation tels que l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI), la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Ces modes permettent une analyse détaillée d'un large spectre de propriétés des matériaux, y compris la démographie de la composition, la topographie et l'évaluation des champs électriques locaux. S 4700 est capable de produire des images 3D d'objets et est équipé de capacités de fonctionnement automatisé, permettant un gain de temps et un fonctionnement cohérent. L'instrument comprend également une grande étape de spécimen, un mécanisme automatisé de changement d'échantillon, un système de visualisation entièrement automatisé et un soutien à la mise en oeuvre de processus automatisés de flux de travail. Dans l'ensemble, HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour une gamme d'applications à haute performance. Cet instrument intègre une variété de fonctions de contrôle et d'analyse, permettant une analyse détaillée des propriétés des matériaux et des capacités d'automatisation pour un fonctionnement efficace.
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