Occasion HITACHI S-4700 #9151037 à vendre en France

HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution et l'acquisition de données dans un large éventail de situations. Cet instrument est idéal pour les mesures à l'échelle nanométrique et l'analyse d'échantillons de très petites tailles. L'équipement haute performance permet des images ultra haute résolution et une analyse élémentaire quantitative avec une faible préparation des échantillons, ainsi qu'un fonctionnement et un entretien faciles. La conception avancée du microscope HITACHI S 4700 permet d'observer simultanément des processus statiques et dynamiques avec jusqu'à trois types différents de détecteurs d'électrons, tels que les détecteurs ED-X, CCD et ESB. Cette capacité reflétante multimodale rend S-4700 un outil de valeur pour la recherche sophistiquée dans la science de matériel, la biologie et d'autres champs. La technologie FE-SEM est alimentée par un canon à alignement direct à haute luminosité et longue durée de vie, réglable pour une accélération optimale et une résolution de faisceau. Ceci offre une clarté et une stabilité d'image supérieures, avec une large gamme de conditions d'imagerie réglables. Le S 4700 dispose également d'un détecteur à lentille unique pour mesurer la rétrodiffusion d'électrons et les électrons secondaires à des tensions d'accélération non optimales. En termes de préparation des échantillons pour HITACHI S-4700, le système peut accueillir des échantillons sans revêtement spécial et peut fonctionner sans azote liquide. Cela le rend idéal pour une grande variété d'échantillons, qui nécessitent une préparation minimale de l'échantillon. HITACHI S 4700 est une unité SEM tout-en-un, avec une taille compacte et un poids léger. Cela permet une installation facile et la portabilité dans divers environnements de laboratoire, tout en fournissant des capacités d'imagerie avancées. En résumé, S-4700 machine FE-SEM est un outil idéal pour l'imagerie et l'analyse élémentaire des échantillons nanométriques. Il est conçu pour être facile à utiliser et nécessite une préparation minimale de l'échantillon. Il offre une qualité d'image supérieure, une large gamme de conditions d'imagerie réglables, et la capacité d'observer des processus dynamiques. Il est léger, facilement portable et possède un canon à alignement direct de longue durée.