Occasion HITACHI S-4700 #9192126 à vendre en France

ID: 9192126
Scanning Electron Microscope (SEM) Option: EDS.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 (SEM) est un instrument d'imagerie et d'analyse de pointe utilisé pour observer les nanostructures, caractériser les matériaux et mesurer les propriétés des objets au niveau microscopique. Le HITACHI S 4700 dispose d'un balayage vectoriel direct, permettant de véritables cartes et mesures XY. Il offre également un équipement automatisé à faible vide (LV) avec une pression minimale de 1 x 10-3 torr. L'instrument comprend une source d'ions cathodiques froids qui fournit une analyse localisée des échantillons et des cartes élémentaires. S-4700 dispose d'une caméra ultra haute résolution FPM-5000 12 bits avec un grand écran vidéo 5,7 ". Ceci fournit une capture d'image à grande vitesse qui permet une gamme de techniques d'imagerie, y compris la 3D, l'imagerie rétrodiffusée et les cartes codées en couleur. L'énergie du faisceau S 4700 est réglable entre 0,1 et 30kV et peut être contrôlée à l'aide du système de lentilles de la bobine et du condenseur, assurant que seuls les électrons de l'énergie optimale tombent sur l'échantillon. L'unité dispose également de faibles fonctions de contrôle de dérive et d'amélioration du contraste automatique, améliorant la précision et la résolution des images. HITACHI S-4700 comprend un détecteur CDD-1100 pour les images d'électrons secondaires à haute résolution, ainsi qu'un détecteur basse tension SDD-1K00 pour l'imagerie précise à basse énergie. Il est équipé d'un étage d'échantillonnage aux rayons X de haute intensité, qui permet une microanalyse détaillée. HITACHI S 4700 peut être utilisé dans une variété de modes, tels que le mode spot, le mode scan continu, le mode alpha et le mode scan par étapes. Il est également équipé d'un petit étage automatisé pour la mesure ponctuelle et d'un insructeur pour le montage des substrats, permettant aux utilisateurs de monter les échantillons rapidement et facilement. S-4700 offre aux utilisateurs un large éventail de capacités de traitement du signal pour améliorer les images et élargir la gamme des fonctions analytiques disponibles. Il est équipé d'une machine primaire à électrons SEM qui offre l'imagerie 3D en temps réel, l'analyse des particules et la cartographie. En conclusion, le microscope électronique à balayage S 4700 est un instrument d'imagerie et d'analyse puissant et polyvalent, conçu pour des applications dans un éventail de domaines industriels, scientifiques et éducatifs. Il combine des capacités d'imagerie avancées, des mesures précises et une gamme de fonctions sophistiquées de traitement du signal dans un paquet abordable.
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