Occasion HITACHI S-4700 #9241883 à vendre en France

ID: 9241883
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm with 15 kV beam, 12 mm working distance 2.1 nm with 1 kV beam, 1.5 mm working distance Magnification: High mag mode: 100x - 500,000x Low mag mode: 20x - 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV Lens: 3-Stage electromagnetic lens Objective lens aperture: Movable aperture Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil (stigmator): Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection type Specimen stage: X Range: 0 to 25 mm Y Range: 0 to 25 mm Z Range: 1.5 to 26.5 mm Tilt range: -5 to 45 degrees Rotation: 360 degrees Spec. size: Maximum100 mm diameter Display options: Scanning speeds: Live viewing: 0.5 to 40 sec per frame Photo: 17 - 333 seconds per frame Electrical image shift: 15 um at 12 mm Evacuation system: Ultimate vacuum levels Specimen chamber: 7E^-4 Pa Electron gun chamber: 2E^-7 Pa at ion pump 1 Vacuum pumps: Electron optics: (3) Ion pumps Specimen chamber: Oil diffusion pump or turbo molecular pump (2) Oil rotary pumps Acoustic noise: Less than 65 dB Dielectric voltage-withstand: 1500 VAC/1 min Microscope control OS: Windows XP Does not include EDAX.
HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour la visualisation d'objets et de matériaux à l'échelle nanométrique. Il fournit des images haute résolution avec une netteté d'image inégalée, comparable aux microscopes à lumière de laboratoire classiques sans la nécessité d'agents de contraste appliqués. Le SEM fonctionne en deux modes : mode balayage et mode point. En mode balayage, un faisceau d'électrons homogénéisé est émis du canon à électrons et focalisé sur l'échantillon par une série de lentilles électromagnétiques. Lorsque le faisceau balaie l'échantillon, les électrons sont collectés rétrodiffusés puis détectés dans un détecteur d'électrons. Ceci permet la formation d'une image numérique de l'échantillon à ultra-haute résolution. Le Point Mode SEM produit un seul faisceau d'électrons étroitement focalisé qui peut être utilisé pour localiser et analyser des zones individuelles d'intérêt sur l'échantillon et générer des images extrêmement haute résolution des caractéristiques présentes. Cela permet à l'utilisateur d'effectuer des mesures précises et précises des dimensions, formes et autres caractéristiques. HITACHI S 4700 dispose également de diverses configurations de détecteurs et méthodes d'imagerie avancées pour permettre à l'utilisateur d'observer une grande variété de matériaux et leurs propriétés. Les capacités d'analyse intégrées du SEM comprennent la spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS) et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). Avec EELS, l'utilisateur peut utiliser les électrons diffusés à partir d'une tension accélérée pour mesurer la perte d'énergie des électrons et identifier les atomes qui composent l'échantillon. Avec EDS, des rayons X sont émis de l'échantillon pour fournir des informations élémentaires sur la composition de l'échantillon. S-4700 fonctionne de façon transparente avec tous les systèmes d'imagerie HITACHI, permettant à l'utilisateur d'effectuer rapidement et facilement l'imagerie, l'analyse et le traitement des données. Le contrôleur et le logiciel fournissent des opérations automatisées, permettant à l'utilisateur d'identifier, mesurer et analyser rapidement les caractéristiques de l'échantillon et d'exporter les résultats. S 4700 est l'outil idéal pour les laboratoires de recherche travaillant dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et des sciences de la vie ; ainsi que la production d'images et de données très précises sur l'échelle nanométrique.
Il n'y a pas encore de critiques