Occasion HITACHI S-4700 #9245498 à vendre en France

HITACHI S-4700 Scanning Electron Microscope (SEM) est un modèle à haute performance de microscope électronique capable d'examiner la masse et la surface des échantillons à l'échelle du nanomètre. En tant que modèle haut de gamme HITACHI de SEM, HITACHI S 4700 offre une variété de fonctionnalités et de fonctions aux chercheurs, producteurs et fabricants qui ont besoin d'un microscope haute résolution et haute performance pour leurs projets. L'instrument offre une variété de technologies de capture d'images, notamment son mode d'imagerie électronique secondaire (SE) qui offre des particules, des grappes de particules et des fibres à l'échelle du nanomètre. Cette fonctionnalité est facilitée par la technologie SNMS (Secondary Neutral Mass Spectromtry), qui permet de produire des informations chimiques à partir de presque tous les spécimens. Le mode SEM (High Angle Annular Dark Field SEM) permet d'analyser des objets possédant des résolutions transversales à l'échelle du nanomètre à de faibles tensions d'accélération et un rendement de détection élevé, ce qui est facilité par son détecteur d'ultra haute tension. De plus, S-4700 permet d'analyser un large éventail d'éléments grâce à sa capacité EDX (Energy Dispersive X-ray Analysis). Cette combinaison avec son détecteur de rayons X personnalisé permet de générer des données précises et une efficacité accrue dans l'examen des échantillons. S 4700 offre également un large choix de fonctions automatisées pour rationaliser le flux de travail des spécimens, telles que la reconnaissance automatisée de la taille du film, la prévention de l'errance et la compensation du décalage Z. En outre, avec sa gamme de matériel avancé, de logiciels et d'équipements d'imagerie, HITACHI S-4700 permet aux chercheurs d'analyser pratiquement n'importe quelle surface ou échantillon. En outre, le modèle a son propre système intégré de préparation des échantillons ; une caractéristique qui aide à la préparation du spécimen pour l'imagerie. D'autres caractéristiques de préparation d'échantillons comprennent un support pour l'azote liquide pour le cryo-SEM et une cellule d'échantillon humide pour les échantillons liquides pour obtenir des images pré-congelées. Combiné à ces caractéristiques uniques, le modèle dispose d'une unité de contrôle intuitive et d'un écran tactile qui permettent aux utilisateurs de manœuvrer facilement et intuitivement l'unité. En outre, HITACHI S 4700 intègre une nouvelle machine de navigation X-Y qui intègre la navigation 2D et 3D dans une seule unité. Cela ajoute à la flexibilité du modèle, permettant aux utilisateurs d'utiliser le même SEM pour des tâches d'imagerie 2D ou 3D. Globalement, S-4700 offre une variété de solutions innovantes aux utilisateurs et est un chef de file de l'industrie en microscopie électronique à balayage. Sa capacité à combiner rapidité, précision et précision en fait un outil précieux pour la science des matériaux, le contrôle de la qualité et le travail en laboratoire. Avec sa facilité d'utilisation et ses capacités d'imagerie avancées combinées à ses modes de balayage polyvalents, le S 4700 est l'outil parfait pour les projets nécessitant un SEM haute performance.