Occasion HITACHI S-4700 #9269385 à vendre en France
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HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir des performances d'imagerie supérieures avec une flexibilité ultime. Il utilise un canon électronique à émission de champ innovant (FEG) qui le rend bien adapté à une grande variété de techniques d'imagerie, y compris l'analyse EDS et EBSD. Avec ses capacités de haute résolution, HITACHI S 4700 permet une analyse détaillée des petits spécimens et des propriétés morphologiques de surface. S-4700 est équipé d'un système de piquage d'image entièrement automatisé, permettant des champs de vision plus grands sans sacrifier les résolutions d'image. Ceci est réalisé en utilisant des fonctions d'étage de superposition, fournissant une couture virtuelle précise et précise. S 4700 dispose également d'une fonction de balayage/zoom haute vitesse, permettant aux utilisateurs de passer d'un large champ de vision à une imagerie haute résolution en quelques secondes. HITACHI S-4700 est compatible avec une variété d'outils et d'accessoires de préparation d'échantillons, tels que le polissage par faisceau d'ions, le traitement par accélérateur d'ions, les profondeurs de champ étendues et la cryo-préparation. HITACHI S 4700 dispose également d'un porte-échantillon disponible en option qui peut être utilisé pour supporter une large gamme de formes et de tailles d'échantillons. En outre, S-4700 permet un contrôle total du faisceau d'électrons, permettant un réglage fin de paramètres tels que la couleur, le contraste, la luminosité et l'équilibre des couleurs. L'ébauche de faisceau intégrée réduit les dommages causés aux échantillons par l'irradiation en coupant les électrons excédentaires. Les algorithmes intégrés d'amélioration de l'image améliore la fidélité de l'image sans perte d'informations originales. La conception mécanique de la S 4700 est faite pour la stabilité ultime et la fiabilité. Il utilise un système de verrouillage de charge pour réduire ou éliminer la contamination par le gaz. Les alimentations à haute tension sont réglables en gamme complète, offrant des performances optimales pour chaque échantillon. HITACHI S-4700 dispose d'une interface conviviale, avec un contrôle logiciel sur tous les paramètres SEM, y compris le grossissement « touch rock-and-roll », le contrôle de gamme de courant, les calibrages de luminosité/contraste et les fonctions arithmétiques d'image. HITACHI S 4700 offre également une variété d'options d'imagerie/analyse, y compris des fonctions de comptage automatique et de numérisation en ligne, d'imagerie par focalisation et de balayage étendu en profondeur de champ. Dans l'ensemble, S-4700 offre une multitude de capacités d'imagerie polyvalentes et de contrôle logiciel avancé. Ce SEM sophistiqué permet des détails d'imagerie exceptionnels et des niveaux inégalés de préparation d'échantillons, ce qui en fait une solution idéale pour la recherche et les applications industrielles.
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