Occasion HITACHI S-4700 #9276154 à vendre en France
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Vendu
ID: 9276154
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Includes:
Magnification: 500,000 times and resolve features to 2 nanometers
Accelerating voltage range: From 0.5 keV to 30 keV
2.5 nm resolution at 1 kV
1.5 nm resolution at 15 kV
Magnification range: From 30x to 500,000x
PC-controlled five axis motorized stage
Specimen stage rotation 360° in continuous mode
Specimen tilt at 12mm working distance (WD) up to 45"
Sample size up to 100 mm diameter x 17 mm high
(2) Secondary Electron (SE) detectors:
Above and below objective lens
Digital image acquisition: 640 x 480, 1280 x 960, or 1560 x 1920 pixels
Fully digital imaging
Image processing
Archiving system.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 (SEM) est un instrument avancé de microscopie électronique conçu pour l'imagerie haute résolution d'un large éventail de matériaux. La conception de ce SEM offre de nombreux avantages, notamment une flexibilité et une meilleure résolution d'imagerie, ainsi qu'un environnement de fonctionnement ergonomique pour la manipulation des échantillons. Grâce à son mécanisme « à pression variable », la HITACHI S 4700 obtient des performances remarquables, quelles que soient les caractéristiques de l'échantillon. S-4700 est un ordinateur de bureau SEM avec une alimentation haute tension capable de fonctionner jusqu'à 30 kV, permettant aux utilisateurs de modifier la tension et les conditions d'imagerie au besoin. Cette fonction, ainsi que ses niveaux de signal à haute sensibilité, permet d'observer les détails de l'échantillon à une résolution optimale. De plus, un système de réglage automatique de la mise au point garantit que l'image est toujours au point. S 4700 est intégré au logiciel E-LINK, qui permet de contrôler facilement le SEM et ses composants pour une optimisation simple de l'instrument, la saisie des données et l'analyse quantitative. Une variété de lentilles objectives fournissent une gamme de grossissements, de 20x à plusieurs milliers de fois. Le système d'imagerie offre également des lentilles de champ de longueur variable pour une imagerie optimale et une flexibilité de résolution. Le porte-échantillon rotatif à 360 ° assure une manipulation et un examen inégalés sous n'importe quel angle, ce qui le rend idéal pour analyser des objets de forme irrégulière. Pour assurer la qualité de l'imagerie, une variété de porte-étagères et de spécimens sont disponibles pour maintenir les échantillons en place. HITACHI S-4700 dispose d'un système de vide composé d'une pompe turbomoléculaire primaire et d'une pompe à diaphragme secondaire, permettant l'évacuation rapide des gaz résiduels essentiels à l'amélioration de la qualité d'image. De plus, la pompe secondaire aide également à réduire la charge des échantillons. HITACHI S 4700 est un SEM idéal pour un large éventail d'applications, y compris les environnements industriels, universitaires et de recherche. Sa technologie d'imagerie innovante et sa conception conviviale en font un outil puissant pour toute application de microscopie.
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