Occasion HITACHI S-4700 #9284210 à vendre en France

HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir une résolution d'image supérieure sur un large éventail de types d'échantillons et de géométries. Au cœur de HITACHI S 4700 se trouve un canon à électrons avec un ensemble unique de filaments horizontaux, qui permet à l'opérateur de fournir un puissant faisceau d'électrons uniforme. Les faisceaux d'électrons à haute énergie fournissent des images lumineuses avec une excellente résolution en profondeur, permettant l'analyse de nanostructures et de microstructures individuelles ainsi que l'analyse à grande surface d'échantillons plus grands. S-4700 offre également une résolution supérieure à celle des autres SEM grâce à sa haute résolution optique. Ceci est rendu possible par les objectifs avancés et les détecteurs d'électrons secondaires, fournissant des images avec une résolution inférieure à trois nanomètres. S 4700 offre également un balayage automatisé in situ, permettant à l'opérateur de numériser rapidement de grandes surfaces en trois dimensions. HITACHI S-4700 dispose de flux de travail optimisés et d'interfaces utilisateur intuitives, ainsi que de fonctions automatisées telles que le focus automatisé et la stigmatisation, fournissant une opération globale simplifiée. Le microscope offre également une large gamme de modes d'imagerie, y compris le balayage d'émissions de champ augmentives, la spectroscopie dispersive d'énergie de fréquence et de rayons X, l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, la cathodoluminescence et l'imagerie ultra-sous vide. En conclusion, HITACHI S 4700 est un microscope électronique à balayage puissant et sophistiqué capable d'analyser un large éventail de types d'échantillons et de géométries. Le canon à électrons avancé et la résolution optique de S-4700 offre une résolution d'image supérieure, et le balayage in situ automatisé et l'interface conviviale permet un fonctionnement rapide et facile. L'ajout d'une large gamme de modes d'imagerie améliore encore la flexibilité du S 4700, ce qui en fait un choix idéal pour la science des matériaux et l'analyse des défaillances des semi-conducteurs.