Occasion HITACHI S-4700 #9316050 à vendre en France

HITACHI S-4700 est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) qui a été utilisé dans diverses applications de recherche sur les matériaux. Il a une haute tension d'accélération qui va de 0.2-30kV, permettant l'acquisition d'images de plus haute résolution et plus de détails. Cela a inclus l'examen de structures plus petites et d'échantillons délicats. Un appareil de visualisation de chambre haute utilise un détecteur de signaux d'électrons et un éclairage laser. Son grand champ de vision circulaire permet d'observer une large gamme d'échantillons SEM en une seule fois. Cette rotation de 0 à 360 degrés peut fournir une imagerie transversale et 3D plus complète. La conception de la colonne optique comporte une seule pièce polaire mobile pour le canon à électrons et l'étage. Son niveau de vide peut être réglé de plus haut que celui de la chambre supérieure à ultra-haut vide (UHV). Sa construction en chambre de contrôle environnemental (CE) est conçue pour être flexible. Son système de régulation de température comprend un réservoir d'azote liquide intégré pour les études TEM à basse température. HITACHI S 4700 dispose d'une unité de microscope vidéo intégrée (VMS) avec un grossissement de caméra allant de 10x à 10.000x. Ceci fournit un affichage couleur haute résolution. HITACHI S-4800 dispose d'une machine d'analyse micro structurale haute vitesse optionnelle qui comprend un SEM à résolution temporelle et un outil de sonde électronique d'imagerie (XIP). La combinaison XIP permet de détecter directement l'analyse élémentaire dans des échantillons cristallins et amorphes en utilisant les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et leurs rapports. S-4700 est complet avec une variété d'accessoires pour la préparation des échantillons. Ces accessoires comprennent un évaporateur, une presse hydraulique et un enrobeur pour le dépôt de couches minces. S 4700 dispose également d'une interface tactile et d'un logiciel intuitif pour faciliter le fonctionnement de tous les composants du microscope. Une multitude de fonctions de mesure, y compris l'alignement automatique des images SEM, sont disponibles.