Occasion HITACHI S-4800 Type II #9223407 à vendre en France
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Vendu
ID: 9223407
Style Vintage: 2005
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800000x
Low magnification mode: 30x to 2000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage: 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (100 V Steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture: 4 Openings selectable / Alignable outside column
Self-cleaning thin aperture
Electromagnetic astigmatism correction coil
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic deflection type
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 110 mm
Y-Traverse: 0 to 110 mm
Z-Traverse: 1.5 to 40.0 mm
Tilt: -5° to 70°
Rotation: 360°
Specimen size: 6" (Airlock type)
Display unit:
Display type: Flicker free image on PC monitor
Viewing monitor: LCD, 18.1"
Type 21 color CRT (1280 x 1024 Pixels)
Photo CRT: Ultra-high resolution type
Effective field of view: 120 x 90 mm
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV:
640 x 480 Pixels display: 25 / 30 flames/s
NTSC / PAL Signal
Fast: Full screen display: 25 / 30 flames/s
Slow:
Full screen display: 1/0.9, 4/3.3, 20/16, 40/32, 80/64 s/flame
640 480 Pixels display: 0.5/0.4, 2/1.7, 10/8, 20/16, 40/32 s/flame
Photograph:
2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 s/flame
Value of (50 Hz) / (60 Hz)
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Date/time
Working distance
Electrical image shift: ±12 um
Evacuation system:
Type: Fully automatic pneumatic-valve system
Vacuum levels:
Specimen chamber: 7 x 10-4 Pa
Electron gun chamber:
IP-1:1 x 10-7 Pa
IP-2: 2 x 10-6 Pa
IP-3: 7 x 10-5 Pa
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
Compressor: Oil-less type
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
2005 vintage.
HITACHI S-4800 Type II est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution de divers échantillons. Il s'agit d'un instrument polyvalent qui peut être utilisé pour un large éventail d'applications telles que l'analyse des défaillances, l'étude des microstructures de surface et la réalisation de l'imagerie et de l'analyse d'échantillons. HITACHI S 4800 TYPE II utilise la technologie des détecteurs d'électrons secondaires pour produire des images d'échantillons à haute résolution avec un contraste et des détails élevés. Le système d'imagerie dispose d'une colonne de canon à émission de champ (FEG), qui fournit un faisceau d'électrons avec une très haute luminosité et une très faible émissivité qui permet une résolution d'image améliorée et une excellente profondeur de focalisation. S-4800 Type II offre une variété de modes de détection tels que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'analyse des cristaux de rayons X, l'imagerie de contraste de tension et l'imagerie de décélération du faisceau. La résolution potentielle de la colonne FEG est de 0,5 nm, et la tension d'accélération maximale du faisceau d'électrons est de 30 kV. Le SEM est également livré avec un étage automatisé à haut débit, qui peut accueillir jusqu'à 30 porte-spécimens. Cela permet de déplacer rapidement les spécimens dans toute la zone de visualisation pour un fonctionnement SEM efficace. De plus, le S 4800 TYPE II propose également un ensemble d'analyses avancées permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire en temps réel et une imagerie quantitative. Ce système comprend un spectromètre de masse ionique à cathode froide (CCIMS), qui peut simultanément mesurer et cartographier jusqu'à cinq éléments différents. En outre, le dispositif est équipé d'un système de traitement d'image numérique, qui permet une variété de transformations d'image telles que des mesures de taille et de forme, l'analyse de fraction de zone, et la reconstruction d'image Z-map. Dans l'ensemble, HITACHI S-4800 Type II est un puissant microscope électronique à balayage conçu pour répondre aux besoins des chercheurs et des ingénieurs qui ont besoin d'images de haute qualité et de capacités analytiques améliorées. Il comprend une colonne FEG améliorée, divers modes d'imagerie et un ensemble analytique avancé pour l'analyse en temps réel des échantillons. Avec un large éventail de caractéristiques, HITACHI S 4800 TYPE II est un outil idéal pour explorer les microstructures de divers matériaux.
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