Occasion HITACHI S-4800 Type II #9223407 à vendre en France

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ID: 9223407
Style Vintage: 2005
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Resolution: Accelerating voltage: 15 kV Working distance: 4 mm to 1.0 nm Accelerating voltage: 1 kV Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm Magnification: High magnification mode: 100x to 800000x Low magnification mode: 30x to 2000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage: 0 to 6.5 kV Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (100 V Steps) Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type Objective lens aperture: Movable aperture: 4 Openings selectable / Alignable outside column Self-cleaning thin aperture Electromagnetic astigmatism correction coil Scanning coil: 2-Stages electromagnetic deflection type Specimen stage: X-Traverse: 0 to 110 mm Y-Traverse: 0 to 110 mm Z-Traverse: 1.5 to 40.0 mm Tilt: -5° to 70° Rotation: 360° Specimen size: 6" (Airlock type) Display unit: Display type: Flicker free image on PC monitor Viewing monitor: LCD, 18.1" Type 21 color CRT (1280 x 1024 Pixels) Photo CRT: Ultra-high resolution type Effective field of view: 120 x 90 mm Scanning modes: Normal scan Reduced area scan Line scan Spot analysis Average concentration analysis Split / Dual magnification Scanning speeds: TV: 640 x 480 Pixels display: 25 / 30 flames/s NTSC / PAL Signal Fast: Full screen display: 25 / 30 flames/s Slow: Full screen display: 1/0.9, 4/3.3, 20/16, 40/32, 80/64 s/flame 640 480 Pixels display: 0.5/0.4, 2/1.7, 10/8, 20/16, 40/32 s/flame Photograph: 2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 s/flame Value of (50 Hz) / (60 Hz) Signal processing modes: Automatic brightness control Gamma control Automatic focus Automatic stigmator Automatic data display: Image number Accelerating voltage Magnification Micron bar Micron value Date/time Working distance Electrical image shift: ±12 um Evacuation system: Type: Fully automatic pneumatic-valve system Vacuum levels: Specimen chamber: 7 x 10-4 Pa Electron gun chamber: IP-1:1 x 10-7 Pa IP-2: 2 x 10-6 Pa IP-3: 7 x 10-5 Pa Vacuum pumps: Electron optical system: (3) Ion pumps Specimen chamber: Turbo molecular pump Oil rotary pump Compressor: Oil-less type Warning devices: Power failure Cooling-water interruption Inadequate vacuum 2005 vintage.
HITACHI S-4800 Type II est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution de divers échantillons. Il s'agit d'un instrument polyvalent qui peut être utilisé pour un large éventail d'applications telles que l'analyse des défaillances, l'étude des microstructures de surface et la réalisation de l'imagerie et de l'analyse d'échantillons. HITACHI S 4800 TYPE II utilise la technologie des détecteurs d'électrons secondaires pour produire des images d'échantillons à haute résolution avec un contraste et des détails élevés. Le système d'imagerie dispose d'une colonne de canon à émission de champ (FEG), qui fournit un faisceau d'électrons avec une très haute luminosité et une très faible émissivité qui permet une résolution d'image améliorée et une excellente profondeur de focalisation. S-4800 Type II offre une variété de modes de détection tels que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'analyse des cristaux de rayons X, l'imagerie de contraste de tension et l'imagerie de décélération du faisceau. La résolution potentielle de la colonne FEG est de 0,5 nm, et la tension d'accélération maximale du faisceau d'électrons est de 30 kV. Le SEM est également livré avec un étage automatisé à haut débit, qui peut accueillir jusqu'à 30 porte-spécimens. Cela permet de déplacer rapidement les spécimens dans toute la zone de visualisation pour un fonctionnement SEM efficace. De plus, le S 4800 TYPE II propose également un ensemble d'analyses avancées permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire en temps réel et une imagerie quantitative. Ce système comprend un spectromètre de masse ionique à cathode froide (CCIMS), qui peut simultanément mesurer et cartographier jusqu'à cinq éléments différents. En outre, le dispositif est équipé d'un système de traitement d'image numérique, qui permet une variété de transformations d'image telles que des mesures de taille et de forme, l'analyse de fraction de zone, et la reconstruction d'image Z-map. Dans l'ensemble, HITACHI S-4800 Type II est un puissant microscope électronique à balayage conçu pour répondre aux besoins des chercheurs et des ingénieurs qui ont besoin d'images de haute qualité et de capacités analytiques améliorées. Il comprend une colonne FEG améliorée, divers modes d'imagerie et un ensemble analytique avancé pour l'analyse en temps réel des échantillons. Avec un large éventail de caractéristiques, HITACHI S 4800 TYPE II est un outil idéal pour explorer les microstructures de divers matériaux.
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