Occasion HITACHI S-4800 Type II #9309410 à vendre en France

HITACHI S-4800 Type II
ID: 9309410
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4800 de type II (SEM) est un outil d'imagerie avancé conçu pour des applications d'imagerie de routine et spécialisées. Ce SEM dispose de détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés et d'un étage X-Y avec une taille maximale d'échantillon de 108 mm. Il est équipé d'un PC EverReady et d'un logiciel Windows pour un contrôle optimal du microscope. HITACHI S 4800 TYPE II SEM est capable d'imager des échantillons avec la plus haute résolution possible pour des échantillons dans sa gamme de tailles. Ceci est réalisé à l'aide d'un analyseur de rayons X dispersif en énergie (EDX) qui mesure les rayons X émis à l'aide d'un filtre d'énergie, lui permettant d'effectuer une analyse élémentaire et une imagerie de résolution spatiale rapide avec la résolution spatiale la plus élevée de 30 nanomètres. Il est équipé d'un système motorisé intégré qui lui permet d'imiter des échantillons à haute résolution et à faible bruit. En plus de son étage X-Y, S-4800 Type II SEM dispose de deux étages supplémentaires - un étage rotatif et un étage incliné. Ces étages sont utilisés pour faire tourner et incliner l'échantillon pendant l'imagerie. La plage d'inclinaison de l'étage d'inclinaison est ± 20 °, donnant une grande souplesse dans l'orientation de l'échantillon. S 4800 TYPE II SEM est également équipé d'un logiciel qui permet un fonctionnement et une analyse sonores dans différents modes. Le logiciel permet d'améliorer l'imagerie en incorporant divers paramètres d'imagerie tels que la luminosité et le contraste, ainsi que de contrôler les détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Le logiciel fournit également un soutien pour la cartographie et l'analyse en mode multi-moniteurs. Pour alimenter HITACHI S-4800 Type II SEM, il nécessite une tension de sortie alternative de 220V. Le système est également équipé d'un générateur de système à vide, qui assure le maintien du vide à un niveau constant, permettant ainsi une imagerie de haute qualité. Le niveau de vide maximal qui peut être atteint est de 5 x 10-10 Torr. HITACHI S 4800 TYPE II SEM est un outil d'imagerie puissant qui peut aider dans divers projets de recherche et développement. Ses capacités comprennent l'imagerie et l'analyse élémentaire des spécimens, ainsi que des modes et logiciels d'imagerie spécialisés pour la cartographie et l'analyse multi-moniteurs. Il offre une excellente résolution et un fonctionnement fiable dans toutes les conditions de vide nécessaires pour un fonctionnement optimal.
Il n'y a pas encore de critiques