Occasion HITACHI S-4800 Type II #9311014 à vendre en France

ID: 9311014
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" No EDX Maximum magnification: 600,000x 2006 vintage.
HITACHI S-4800 Type II est un microscope électronique à balayage en champ froid (SEM) à haute performance. Ce type de microscope utilise un canon d'émission de champ froid unique, qui fournit une haute résolution, l'imagerie à faible bruit avec une grande profondeur de champ. La source d'électrons est un canon à émission de champ qui élimine le besoin d'un émetteur thermionique, permettant une imagerie à plus grande résolution que les SEM traditionnels. Il a une large gamme d'énergie de 5 à 30 keV, permettant à la fois l'imagerie à grande échelle et l'analyse de films minces. HITACHI S 4800 TYPE II est équipé d'un grand étage, qui permet l'utilisation d'échantillons plus grands et/ou de plusieurs échantillons à la fois. L'étage a une taille maximale d'échantillon de 200 mm x 150 mm et peut supporter un poids maximal d'échantillon de 10 kg. L'étage a un mouvement X et Y avec une plage de balayage de 70 mm en X et 50 mm en Y. Il y a aussi l'ajout d'un porte-échantillon incliné, permettant aux utilisateurs d'imiter des échantillons inclinés jusqu'à 20 degrés. S-4800 Type II dispose d'un appareil photo numérique haute résolution et d'un système de transfert de trame numérique. Cela permet de capturer des images de haute qualité des échantillons et de les analyser pour une variété de propriétés matérielles. La caméra a une résolution de 3000 x 2.500 pixels et une cadence maximale de 10 fps. S 4800 TYPE II a une variété de modes d'imagerie pour les utilisateurs à utiliser. Il s'agit notamment de SE (électron secondaire), d'ESB (électron rétrodiffusé), d'EDS (spectroscopie dispersive d'énergie) et de WDS (spectroscopie dispersive d'énergie grand angle). Ces modes permettent de quantifier les propriétés des matériaux et la composition chimique des échantillons. HITACHI S-4800 Type II permet l'analyse automatisée des caractéristiques des spécimens. Cela comprend l'analyse automatisée de la taille et de la forme des grains, ainsi que la cartographie élémentaire et l'EBSD (Electron Backscatter Diffraction). Les capacités d'analyse automatisée des fonctionnalités sont très utiles pour les applications de la science des matériaux et de l'ingénierie. HITACHI S 4800 TYPE II est optimisé pour une utilisation dans une variété d'industries. Il est idéal pour l'industrie des semi-conducteurs, ainsi que la science des matériaux, l'ingénierie et la recherche médicale. Ce SEM a une qualité d'image exceptionnelle et est extrêmement polyvalent. C'est un microscope électronique à balayage fiable et économique.
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