Occasion HITACHI S-4800 Type II #9311798 à vendre en France
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ID: 9311798
Style Vintage: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
FE Tip
(4) Barium Ion pumps
BOC EDWARDS STP 301H Pump
Stage: Type 2
5 Axis motor, 6"
SE Detector:
Upper detector
(2) Lower detectors
Ion pump power: HITACHI Electron
Option: CD Measurement function
Display unit:
LED Monitor, 19"
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT D530 CMT Control PC
Stage move: Joy stick control
Control panel
AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 101 Keyboard
Microsoft mouse
Operating system: Window XP
Utility:
EDWARD ESDP13 Pump
Pumping hose type
Chiller
Down trans:
4F500-548 Auto transformer
Capacity: 7 kVa
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 30x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30kV (100 V Steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (stigmator)
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic-deflection type
Specimen stage:
X Traverse: 0 to 110 mm (continuous)
Y Traverse: 0 to 110 mm (continuous)
Z Traverse: 1.5 to 40.0 mm (continuous)
Tilt: -5° to +70°
Rotation: 360°
Specimen size: Maximum 100 mm diameter
Display unit:
Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 18.1 LCD
Option: Type 21 color CRT (1280x1024 Pixels)
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type
(Effective field of view 120x90 mm)
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
Fast: Full screen display: 6.25/7.5 Frames/s
TV: 640 x 480 pixel display: 25/30 Frames/s
NTSC or PAL Signal
Slow:
Full screen display: 1/0.9 , 4/3.3 , 20/16, 40/32 ,80/64 Frames/s
640x480 Pixels display: 0.5/0.4 , 2/1.7 , 10/8 , 20/16, 40/32 Frames/s
Photograph:
2560 x 1920 Pixels display: 40/32, 80/64, 160/128, 320/256 Flame/s
Value: 50/60 Hz
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Data/time and working
Distance can be printed in film
Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks
Electrical image shift: 12 m (WD=8 mm)
Evacuation system:
Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels:
Specimen chamber: 7x Pa
Electron gun chamber:
IP1 1 x Pa or Better
IP2 2 x Pa or Better
IP3 7 x Pa or Better
Vacuum pumps:
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
(4) Compressors: Oil-less type
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Power requirements: 100V AC (±10%), Single phase, 50/60Hz
4 kVA For voltage other than 100V AC
2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. C'est un SEM de nouvelle génération, avec une large gamme de fonctionnalités pour améliorer l'acquisition et le traitement des connaissances. HITACHI S 4800 TYPE II dispose d'un grand écran numérique, de capacités d'imagerie améliorées et d'une large gamme d'outils de manipulation d'échantillons, ce qui en fait un outil puissant pour étudier la structure et la composition des matériaux. Au cœur du S-4800 Type II se trouve le STEM (Scanning Transmission Electron Microscope). Cette technologie permet toute une gamme d'analyses microstructurales et élémentaires. La technologie avancée d'imagerie utilisée dans S 4800 TYPE II fournit une carte topographique haute résolution de l'échantillon qui peut être scannée à une résolution pouvant atteindre 1 nanomètre. Avec ce niveau de précision, il est possible d'acquérir des images d'échantillons à l'échelle atomique, permettant une compréhension détaillée de leurs propriétés et de leur structure. HITACHI S-4800 Type II est également équipé d'une gamme d'outils de manipulation d'échantillons. Cela intègre un système de porte-échantillons avec des capacités de déplacement et de balayage finement réglables, ainsi qu'un étage d'échantillons qui peut être tourné pour changer les vues. Lorsqu'ils sont utilisés en combinaison avec le STEM, ces outils fournissent aux chercheurs une gamme d'outils pour manipuler des échantillons, leur permettant d'atteindre les résultats souhaités. En plus de ses capacités d'imagerie haute résolution, HITACHI S 4800 TYPE II comprend également une gamme de fonctionnalités logicielles intuitives. Cela comprend une interface graphique conviviale (interface graphique) et une fonction d'automatisation qui peut être utilisée pour automatiser une série de procédures. Cela facilite la mise en place d'expériences rapides et précises, ainsi que le suivi des progrès et l'analyse des résultats. S-4800 Le type II utilise également un système de vide pour s'assurer que les échantillons propres sont analysés avec confiance. Cela permet de s'assurer que l'échantillon reste dans l'état optimal pour des résultats d'imagerie optimaux. Dans l'ensemble, le S 4800 TYPE II est un puissant outil de microscopie électronique. Avec ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, il est un outil fiable pour la recherche et l'analyse de matériaux.
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