Occasion HITACHI S-4800 Type II #9389453 à vendre en France

ID: 9389453
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" Secondary electron image resolution: 1.0 nm (15 kV, WD: 4 mm) Deceleration mode: 1.4 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Normal mode: 2.0 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Magnification: LM Mode: 20x ~ 2,000x HM Mode: 100x ~ 800,000x Specimen stage: Stage motorization: 5-Axis motorized Type II: X: 0 mm - 110 mm Y: 0 mm - 110 mm Z: 1.5 mm - 40 mm T: -5 mm - +70°C R: 360° Includes: Keypad Trackball BSE STEM EDX Chamber camera Operating system: Windows XP 2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) connu pour ses excellentes performances, sa résolution et sa polyvalence extrême. C'est un type d'émission de champ SEM, c'est-à-dire qu'il utilise un canon à électrons qui émet un petit faisceau d'électrons à l'aide d'un filament de tungstène entraîné à fort courant. La HITACHI S 4800 TYPE II est capable de fonctionner en mode basse et haute dépression, permettant l'imagerie d'échantillons non revêtus. Cette capacité le rend particulièrement bien adapté à l'imagerie d'échantillons organiques et biologiques. Il a également un fonctionnement basse tension de 0,15 à 3,00 keV, étendant la portée des cibles d'imagerie possibles. Le SEM est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires hybrides, pour la capture d'électrons secondaires. Ce sont les électrons qui sont créés lorsque le faisceau primaire d'électrons interagit avec la surface de l'échantillon. Il peut être utilisé pour la recherche et l'analyse d'un large éventail d'échantillons, des semi-conducteurs aux biomatériaux. S-4800 Type II offre également une technologie de faisceau de forme variable, ou V-SEM. Cela permet à l'utilisateur de contrôler la forme et la taille du faisceau primaire, ce qui améliore la résolution jusqu'à 15 fois par rapport aux SEM typiques. Le V-SEM permet une plus grande flexibilité d'analyse et une plus grande vitesse pour certains types d'imagerie. Il est équipé à la fois d'étapes manuelles et automatisées, et est capable d'imagerie automatique de cellule à l'aide d'un contrôleur de mouvement de cellule d'échantillon récemment développé. Le contrôleur peut déplacer l'échantillon pendant que le SEM est en fonctionnement, ce qui permet de prendre un éventail beaucoup plus large d'images automatisées. S 4800 TYPE II est conçu pour l'observation et la préparation optimisées des échantillons. Il est équipé d'un détecteur STEM dans la lentille ou l'environnement, ce qui lui permet de fournir une imagerie inégalée des échantillons dans les modes à vide faible et élevé. Il est capable de détecter des éléments de numéro atomique supérieur à 5. HITACHI S-4800 Type II est un SEM très polyvalent et capable, conçu pour optimiser la recherche et l'analyse d'un large éventail d'échantillons. Sa technologie de faisceau de forme variable, son fonctionnement à basse tension et ses détecteurs STEM dans les lentilles et l'environnement le rendent idéal pour l'imagerie d'échantillons biologiques et organiques.
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