Occasion HITACHI S-4800 #293610187 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4800 (SEM) est un instrument scientifique très avancé utilisé pour obtenir une imagerie à haute résolution de spécimens à l'échelle nanométrique. C'est un outil important pour la science des matériaux et la recherche physique. HITACHI S 4800 est capable de produire des images détaillées et à fort grossissement des surfaces et des spectres ultra-sondes de divers éléments de l'échantillon. Ce SEM a une résolution allant jusqu'à 1,5 nanomètres et peut atteindre un grossissement de 10,000X. Pas seulement S-4800 peut obtenir des images à haute résolution, mais il peut aussi exécuter la diffraction électronique et EDX (l'énergie dispersive l'analyse de Rayons X) les mesures. S 4800 est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui permet des émissions stables et fiables du faisceau d'électrons. Cette FEG permet de réduire les tensions d'accélération, ce qui réduit les effets du faisceau d'électrons et réduit les dommages causés par le rayonnement aux échantillons délicats. HITACHI S-4800 dispose de systèmes automatisés de distribution d'échantillons tels qu'un système de cassettes à vide élevé (HV), qui favorisent le changement et l'examen efficace d'un maximum de cinq échantillons. De plus, des questions telles que l'environnement et la sécurité des utilisateurs sont prises en compte avec les systèmes automatisés de livraison d'échantillons, en raison de leur processus de fonctionnement rapide et facile. HITACHI S 4800 est également équipé d'une variété de détecteurs qui permettent une variété de techniques de mesure. Ces détecteurs comprennent les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (ESB) et les électrons de signal (SED). Les détecteurs SE et ESB sont utilisés pour l'imagerie et l'analyse de composition de l'échantillon, tandis que le détecteur SED est utilisé pour obtenir des images à fort grossissement ou pour mesurer des caractéristiques de surface ou des nanostructures. Bien que S-4800 soit conçu pour être en grande partie un outil d'imagerie et d'analyse de composition, ses capacités spectroscopiques sont ce qui le rend si polyvalent. En utilisant un filtre à énergie, S 4800 peut effectuer une gamme de mesures spectroscopiques telles que la microanalyse des rayons X (XMA) et la fluorescence des rayons X (XRF). Grâce à ses différents détecteurs et capacités de spectroscopie, HITACHI S-4800 est capable d'obtenir des images précises et avancées ainsi que des données qualitatives de composition. Dans l'ensemble, HITACHI S 4800 est un excellent choix pour les utilisateurs à la recherche d'un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent. Il dispose d'excellentes capacités d'imagerie, de systèmes automatisés de distribution d'échantillons et de techniques de spectroscopie, ce qui en fait un outil efficace dans tout laboratoire de recherche.