Occasion HITACHI S-4800 #9184387 à vendre en France

HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage (SEM). Il permet à l'utilisateur d'analyser les caractéristiques morphologiques des surfaces, la taille et la forme des particules, et la structure interne des boucles. Il est utile pour la science des matériaux et dans de nombreux autres domaines. HITACHI S 4800 utilise une colonne électronique qui est composée d'une colonne optique ionique, d'une lentille condenseur, d'une chambre de pompage différentiel et d'une lentille d'immersion magnétique. La colonne permet une imagerie haute résolution et une large gamme de haute et basse tension d'accélération. En outre, il dispose d'un correcteur d'abbation (AST) qui fournit des images de haute qualité avec une aberration réduite. S-4800 possède un détecteur d'électrons secondaire (SED), un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) et un détecteur de cathodoluminescence (CL). Les détecteurs permettent aux utilisateurs d'améliorer la résolution, la sensibilité et le contraste. Ils permettent également l'analyse énergétique et élémentaire. Le détecteur CL peut détecter de faibles effets lumineux luminescents de différents matériaux pour visualiser la microstructure interne de l'échantillon. S 4800 est également équipé d'une possibilité de mesure des caractéristiques d'épaisseur des films isolants. Ceci permet d'analyser de telles séquences de films sans les démonter. De plus, la spectroscopie à rayons X dispersante énergétique intégrée (EDS) fournit une cartographie élémentaire de la surface de l'échantillon. De plus, HITACHI S-4800 convient à l'observation automatisée des échantillons. Un balayage d'étage XY automatisé et une correction d'étage automatisée sont disponibles. L'étape automatisée stable permet aux utilisateurs d'observer de quelle direction et où l'échantillon a été automatiquement observé. Dans l'ensemble, HITACHI S 4800 est un microscope électronique à balayage précis et fiable qui fournit une gamme de caractéristiques et de fonctions pour les sciences des matériaux et de nombreux autres domaines. C'est un outil essentiel pour faire des observations détaillées et analyser diverses propriétés au niveau du nanomètre.