Occasion HITACHI S-4800 #9209753 à vendre en France

ID: 9209753
Style Vintage: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With HORIBA EDX system Workstation: HP DC7100MT Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode Stigmator: Octopole electromagnetic EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller UPS HITACHI Air compressor Operating system: Windows XP Resolution: Accelerating voltage: 15 kV Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x) Accelerating voltage: 1 kV Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x) Magnification: High magnification mode: 100x to 800,000x Low magnification mode: 20x to 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps) Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type Objective lens aperture: Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column) Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator) Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics Specimen stage: X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous) Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous) Tilt: -5° to +70° Rotation: 360° (Continuous) Specimen size: Max 100 mm (Diameter) (Airlock type specimen exchange) Display unit: Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds) Viewing monitor: Type 18.1 LCD Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels) Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type (Effective field of view 120 x 90 mm) Full screen: 1280 x 960 Pixels Reduced area: 640 x 480 Pixels 320 x 240 Pixels Dual Image: 640 x 480 Pixels Scanning modes: Normal scan Reduced area scan Line scan Spot analysis Average concentration analysis Split / Dual magnification Scanning speeds: TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s) Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s) Slow: (Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s) (640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s) Photograph: 2560 x 1920 Pixels Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s Value: 50 Hz / 60 Hz TV: NTSC or PAL Signal Signal processing modes: Automatic brightness control Gamma control Automatic focus Automatic stigmator Automatic data display: Image number Accelerating voltage Magnification Micron bar Micron value Data / Time Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm) Evacuation system: System type: Fully automatic pneumatic-valve system Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa 10-7 Pa in electron gun chamber 10-4 Pa in specimen chamber Electron gun chamber: IP1 1 x Pa or better IP2 2 x Pa or better IP3 7 x Pa or better Vacuum pumps: ULVAC GLD-136 Electron optical system: (3) Ion pumps Specimen chamber: Turbo molecular pump Oil rotary pump Protection devices: Warning devices: Power failure Cooling-water interruption Inadequate vacuum Secondary electron image resolution: 1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm 1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm Sample chamber: Size: Type I stage Max sample size: 100 mm Diameter Stage motion: 3 Axis motorized X/Y: 0 - 50 mm Signal selection: SE Signal X-Ray signal AUX Signal UPS Unit Chiller FE-SEM Rotary pump Main body: Stage controller (ROM PCB) EVAC Controller (ROM PCB) (3) Ion pumps SE Detector Multi-aperture Gun head cap STP301H TMP Pump STP301H TMP Controller Solenoid valve assy PC Hard Disk Drive (HDD) Operating system: Windows XP HV Controller Gun head unit Case Operation unit: LCD Monitor Keyboard Mouse Operation panel Stage control trackball ETC: Ion coater rotary pump LN2 UPS EDS Control HUB EDS Controller Operating system: Windows XP Baking tool Ion coater HP Office Jet Pro C8194A Printer Manuals included 4 kVA For voltage other than 100V AC Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz 2008 vintage.
HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre à la fois une excellente qualité d'image et des capacités d'analyse polyvalentes. Cet instrument haut de gamme est conçu pour toute une gamme d'applications industrielles et de recherche, telles que la recherche sur les matériaux et les sciences de la vie, l'analyse de spécimens, l'analyse de défaillances, le découpage transversal et les mesures de surface. HITACHI S 4800 est équipé d'un émetteur d'électrons à filament de tungstène, des fonctionnalités de pression variable (VP) et de température variable de pression (VPVT). Les modes VP et VPVT permettent de visualiser les spécimens à différents niveaux de pression et températures, ce qui permet des caractérisations plus profondes et plus précises. En outre, le microscope présente une grande zone détectée de 140mm de diamètre et a une haute résolution, jusqu'à 1nm de résolution en mode image électronique secondaire (SEI). En outre, le mode avancé basse dépression (ALV) offre la capacité de détecter SEM Image sur des matériaux non conducteurs. La conception flexible de S-4800 permet de l'utiliser pour diverses techniques, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'analyse élémentaire EDX et WDS pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative. De plus, les capacités d'imagerie stéréo et 3D fournissent une caractérisation complète des spécimens. L'imagerie avancée comprend des affichages vivants et monochromes, ainsi que des outils de mesure d'images numériques pour permettre des mesures et des désignations précises de la structure interne et des propriétés de surface. De plus, la grande chambre d'échantillonnage et les étages élévateurs permettent une manipulation et une manipulation efficaces des échantillons. S 4800 dispose également d'une large gamme d'accessoires, tels qu'un réseau de détecteurs avancés et des mises à niveau de colonnes d'électrons, et un système d'imagerie automatique qui permet l'acquisition automatisée d'images. De plus, le filtrage avancé de l'énergie aide à l'étude des signaux de rayons X dispersifs en énergie. Dans l'ensemble, HITACHI S-4800 est un puissant SEM haut de gamme conçu pour répondre aux exigences de diverses applications de recherche et industrielles. Il offre une excellente qualité d'image et des capacités d'analyse avancées grâce à sa conception polyvalente, permettant aux utilisateurs d'obtenir une vue précise et précise du spécimen analysé.
Il n'y a pas encore de critiques