Occasion HITACHI S-4800 #9209753 à vendre en France
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ID: 9209753
Style Vintage: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With HORIBA EDX system
Workstation: HP DC7100MT
Declaration mode: 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Stigmator: Octopole electromagnetic
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
UPS
HITACHI Air compressor
Operating system: Windows XP
Resolution:
Accelerating voltage: 15 kV
Working distance: 4 mm to 1.0 nm (220,000x)
Accelerating voltage: 1 kV
Working distance: 1.5 mm to 2.0 nm (120,000x)
Magnification:
High magnification mode: 100x to 800,000x
Low magnification mode: 20x to 2,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold cathode field emission type
Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (in 100 V steps)
Lens: 3-Stage electromagnetic lens, reduction type
Objective lens aperture:
Movable aperture (4 Openings selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning thin aperture
Astigmatism correction coil: Electromagnetic type (Stigmator)
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics
Specimen stage:
X-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Y-Traverse: 0 to 50 mm (Continuous)
Z-Traverse: 1.5 to 30.0 mm (Continuous)
Tilt: -5° to +70°
Rotation: 360° (Continuous)
Specimen size: Max 100 mm (Diameter)
(Airlock type specimen exchange)
Display unit:
Display type: Flicker-free image on PC monitor (Full scanning speeds)
Viewing monitor: Type 18.1 LCD
Option: Type 21 Color CRT (1280 x 1024 pixels)
Photo CRT (Option): Ultra-high resolution type
(Effective field of view 120 x 90 mm)
Full screen: 1280 x 960 Pixels
Reduced area:
640 x 480 Pixels
320 x 240 Pixels
Dual Image: 640 x 480 Pixels
Scanning modes:
Normal scan
Reduced area scan
Line scan
Spot analysis
Average concentration analysis
Split / Dual magnification
Scanning speeds:
TV (640 x 480 pixel display: 25 / 30 frames/s)
Fast (Full screen display: 6.25 / 7.5 frames/s)
Slow:
(Full screen display: 1 / 0.9 , 4 / 3.3 , 20 / 16, 40 / 32 ,80 / 64 Frames/s)
(640 x 480 pixels display: 0.5 / 0.4 , 2 / 1.7 , 10 / 8 , 20 / 16, 40 / 32 Frames/s)
Photograph: 2560 x 1920 Pixels
Display: 40 / 32, 80 / 64, 160 / 128, 320 / 256 Frames/s
Value: 50 Hz / 60 Hz
TV: NTSC or PAL Signal
Signal processing modes:
Automatic brightness control
Gamma control
Automatic focus
Automatic stigmator
Automatic data display:
Image number
Accelerating voltage
Magnification
Micron bar
Micron value
Data / Time
Data entry: Alphanumeric characters, number, and marks
Electrical image shift: 12 m (WD: 8 mm)
Evacuation system:
System type: Fully automatic pneumatic-valve system
Ultimate vacuum levels: Specimen chamber: 7 x Pa
10-7 Pa in electron gun chamber
10-4 Pa in specimen chamber
Electron gun chamber:
IP1 1 x Pa or better
IP2 2 x Pa or better
IP3 7 x Pa or better
Vacuum pumps: ULVAC GLD-136
Electron optical system: (3) Ion pumps
Specimen chamber: Turbo molecular pump
Oil rotary pump
Protection devices:
Warning devices:
Power failure
Cooling-water interruption
Inadequate vacuum
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: 100 mm Diameter
Stage motion:
3 Axis motorized
X/Y: 0 - 50 mm
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
UPS Unit
Chiller
FE-SEM Rotary pump
Main body:
Stage controller (ROM PCB)
EVAC Controller (ROM PCB)
(3) Ion pumps
SE Detector
Multi-aperture
Gun head cap
STP301H TMP Pump
STP301H TMP Controller
Solenoid valve assy
PC
Hard Disk Drive (HDD)
Operating system: Windows XP
HV Controller
Gun head unit
Case
Operation unit:
LCD Monitor
Keyboard
Mouse
Operation panel
Stage control trackball
ETC:
Ion coater rotary pump
LN2
UPS
EDS
Control HUB
EDS Controller
Operating system: Windows XP
Baking tool
Ion coater
HP Office Jet Pro C8194A Printer
Manuals included
4 kVA For voltage other than 100V AC
Power requirements: 100V AC (±10% ), Single phase, 50/60 Hz
2008 vintage.
HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre à la fois une excellente qualité d'image et des capacités d'analyse polyvalentes. Cet instrument haut de gamme est conçu pour toute une gamme d'applications industrielles et de recherche, telles que la recherche sur les matériaux et les sciences de la vie, l'analyse de spécimens, l'analyse de défaillances, le découpage transversal et les mesures de surface. HITACHI S 4800 est équipé d'un émetteur d'électrons à filament de tungstène, des fonctionnalités de pression variable (VP) et de température variable de pression (VPVT). Les modes VP et VPVT permettent de visualiser les spécimens à différents niveaux de pression et températures, ce qui permet des caractérisations plus profondes et plus précises. En outre, le microscope présente une grande zone détectée de 140mm de diamètre et a une haute résolution, jusqu'à 1nm de résolution en mode image électronique secondaire (SEI). En outre, le mode avancé basse dépression (ALV) offre la capacité de détecter SEM Image sur des matériaux non conducteurs. La conception flexible de S-4800 permet de l'utiliser pour diverses techniques, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'analyse élémentaire EDX et WDS pour l'analyse élémentaire qualitative et quantitative. De plus, les capacités d'imagerie stéréo et 3D fournissent une caractérisation complète des spécimens. L'imagerie avancée comprend des affichages vivants et monochromes, ainsi que des outils de mesure d'images numériques pour permettre des mesures et des désignations précises de la structure interne et des propriétés de surface. De plus, la grande chambre d'échantillonnage et les étages élévateurs permettent une manipulation et une manipulation efficaces des échantillons. S 4800 dispose également d'une large gamme d'accessoires, tels qu'un réseau de détecteurs avancés et des mises à niveau de colonnes d'électrons, et un système d'imagerie automatique qui permet l'acquisition automatisée d'images. De plus, le filtrage avancé de l'énergie aide à l'étude des signaux de rayons X dispersifs en énergie. Dans l'ensemble, HITACHI S-4800 est un puissant SEM haut de gamme conçu pour répondre aux exigences de diverses applications de recherche et industrielles. Il offre une excellente qualité d'image et des capacités d'analyse avancées grâce à sa conception polyvalente, permettant aux utilisateurs d'obtenir une vue précise et précise du spécimen analysé.
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