Occasion HITACHI S-4800 #9213997 à vendre en France
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ID: 9213997
Style Vintage: 2010
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
With EDX system
Sample loading systems: Transfer sample in inert gas vessel
Secondary electron image resolution:
1.0nm at 15 kV, WD=4mm
1.4nm at 1 kV, WD=1.5mm
Declaration mode:
2.0nm at 1 kV
WD: 1.5mm
Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x – 2,000x
HM Mode: 100x – 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stage electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4" (100mm)
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50mm
R: 360 Deg continuous
Display system:
Image display
Full screen: 1,280 x 960 pixels
Dual display
Scanning speed:
TV: 25/30x2 frame/s
Fast: 6.25/7.5x2 frame/s
Slow: 1/4/20/40/80 s/frame or 5/2/10/20/40 s/frame
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
Electron gun chamber: 10-7 Pa
Specimen chamber: 10-4 Pa
(3) Pumps:
Ion pump
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
HORIBA 7593-H EMAX EDS/X system, 2010
Detection area: 30mm²
Window: ATW2
Resolution at 5.9 keV: 133eV
Vacuum pump: ULVAC GLD-136
Chiller: Eyela cool ace CA-1111
UPS
Operation manuals
2010 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4800 (SEM) est un microscope à haute performance et polyvalent bien adapté à une variété d'applications de caractérisation des matériaux. Le HITACHI S 4800 offre une résolution et une qualité d'image supérieures en utilisant un vide ultra-haut dédié et un nouveau type de scintillateur. S-4800 utilise un canon à électrons à émission de champ Schottky qui génère des électrons de luminosité supérieure et de faible divergence de faisceau. Le courant du faisceau est maintenu à des niveaux élevés sur de longues périodes de temps, produisant des images à haute résolution même à de grands grossissements. Le canon à électrons est couplé à un nouveau type de scintillateur, qui produit un rapport signal sur bruit plusieurs fois plus élevé que les scintillateurs classiques. S 4800 est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille. On obtient ainsi des images d'électrons secondaires de plus haute définition qu'avec un détecteur supplémentaire à l'arrière de l'étage d'échantillonnage. Il est également adapté à une gamme de conditions d'imagerie et peut même être utilisé soit avec une faible tension d'accélération, soit avec une haute tension d'accélération. Afin d'assurer des performances stables à des grossissements élevés, HITACHI S-4800 est équipé d'une chambre environnementale qui minimise l'influence des vibrations externes. Le mode de fonctionnement à basse température permet de détecter des électrons secondaires de faible énergie sans dérive thermique importante. Le HITACHI S 4800 offre également une large gamme de niveaux de vide allant de l'ultra-vide de 1 x 10-6 torr à un vide élevé de 4 x 10-2 torr, ce qui permet une variété de techniques de préparation, d'observation et d'analyse des échantillons. Un changeur d'échantillon automatisé et un système de contrôle de haut niveau sont disponibles pour les chercheurs qui nécessitent une utilisation fréquente et pour travailler avec plusieurs échantillons. Le système de contrôle permet un fonctionnement automatisé et l'analyse des données, permettant une plus grande efficacité de recherche. S-4800 est un microscope électronique à balayage puissant, polyvalent et fiable qui convient à toute une gamme d'applications de caractérisation des matériaux. Ses capacités supérieures de détection et d'imagerie en font un excellent choix pour les chercheurs qui ont besoin d'images et de données de la plus haute qualité.
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