Occasion HITACHI S-4800 #9254505 à vendre en France

HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument puissant qui combine deux modalités d'imagerie - électrons secondaires et électrons rétrodiffusés - pour produire des images à haute résolution d'une surface d'échantillon. L'équipement HITACHI S 4800 est équipé d'une large gamme de caractéristiques et de technologies de pointe, y compris une grande distance de travail et une optique électronique hors axe avancée. S-4800 offre un haut niveau de résolution et de grossissement, de moins de 1 nm à plus de 500 nm, ce qui le rend bien adapté à un large éventail d'applications. Le système est équipé des dernières lentilles hors-axe qui permettent une grande distance de travail et la possibilité de transmettre jusqu'à 10kV électrons. Il dispose également d'une capacité de focalisation automatique et peut projeter des images modelées avec un fort contraste. Le volume de la chambre expansible et l'étage flexible de l'unité permettent l'étude d'échantillons plus grands et plus épais jusqu'à un maximum de 200 mm. L'étage d'échantillonnage peut être ouvert jusqu'à 810 mm à l'intérieur de la chambre, ce qui permet d'observer facilement des échantillons plus gros et plus épais. S 4800 a une puissante source d'émission de champ (FE-SEM) avec une source de rayons X unique qui permet la génération simultanée de signaux de rayons X à partir d'électrons et d'ions. Cette caractéristique est bénéfique pour la caractérisation qualitative et quantitative de la surface de l'échantillon. HITACHI S-4800 est conçu pour des performances maximales, permettant un faible bruit et une imagerie haute résolution. L'électronique sur la machine a été conçue pour une grande stabilité, fournissant des performances fiables et des résultats fiables. L'outil HITACHI S 4800 est également équipé d'un atout d'imagerie haute vitesse avancé, qui permet à l'utilisateur de capturer des images à haut débit d'image. Le modèle comprend également une gamme complète d'outils d'imagerie pour l'analyse de spécimens, tels que la cartographie de surface, les montages d'images numériques, l'imagerie 3D, la reconnaissance des grains, l'identification des objets, le comptage des particules, les mesures de surface et la mesure de l'épaisseur. Enfin, l'équipement convivial du S-4800 facilite la navigation et le contrôle. Une interface tactile intuitive et un manuel d'utilisation complet font du S 4800 la solution SEM idéale.