Occasion HITACHI S-4800 #9255305 à vendre en France

ID: 9255305
Style Vintage: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With control bench Imaging: Topographic contrast secondary electron (SE) Atomic number contrast back-scattered electron (BSE) Control panel included HEWLETT-PACKARD / HP Computer NORAM System 7 HUBER Minichiller-H1 Advanced Vacuum pump MS NOISE NRVP-B 2004 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4800 (SEM) est un outil d'analyse performant et facile à utiliser qui utilise des électrons secondaires pour permettre une analyse de surface rapide et précise dans une variété de matériaux. Ce SEM intègre une colonne électronique à pression variable qui permet une large gamme de conditions environnementales, permettant l'imagerie et l'analyse d'échantillons sans nécessité de préparation d'échantillons ou d'articles spécialisés. Sa flexibilité et sa facilité d'utilisation en font un instrument idéal pour un éventail d'institutions de recherche, d'établissements universitaires et d'applications industrielles. HITACHI S 4800 dispose d'une source d'électrons avec une source de tungstène haute luminosité capable d'accélérer jusqu'à 20kV la tension. Cette source réduit intrinsèquement le courant faisceau-disque, d'où une image plus nette, avec une résolution et un contraste accrus. Le canon à électrons est monté sur un manipulateur à cinq axes qui augmente la flexibilité de positionnement lors de la conduite de l'imagerie. S-4800 SEM incorpore une colonne électronique à vide basse avancée pouvant fonctionner entre 10 − 3 et 10 − 8 mbar. Cette gamme de pressions permet d'étudier les conditions de surface de l'environnement sans qu'il soit nécessaire de préparer l'échantillon. L'objectif a une résolution optique d'électrons de 24pm dans des conditions d'ultra-vide et jusqu'à 60 pm dans des conditions environnementales douces, tandis que le système de détection est capable de détecter des électrons à basse énergie à partir d'une gamme de sondes. En termes d'électronique d'imagerie, le S 4800 dispose d'une variété de fonctions. Il s'agit notamment d'un objectif de focalisation automatique qui compense toute modification de la surface de l'échantillon ou de la forme géométrique, et d'un réglage automatique des réglages pour améliorer la qualité de l'image. L'unité dispose également d'un logiciel de traitement d'images pour gérer les données et créer des images. En termes de performance, HITACHI S-4800 est capable de produire des images de haute qualité avec des artefacts minimums dans une gamme de conditions environnementales. Il offre également le potentiel de résolution spatiale jusqu'à 3 nm en mode STEM. De plus, en mode de balayage normal, le taux de balayage a été augmenté jusqu'à 30 % de ce qui serait classique. En termes de sécurité et de convivialité, HITACHI S 4800 est livré avec un bouclier de particules dédié qui s'allume lorsque le faisceau est engagé pour s'assurer que l'utilisateur n'est pas exposé au flux d'électrons. S-4800 offre également un fonctionnement AutoEase à un bouton, permettant à l'utilisateur d'ajuster facilement le courant d'émission, en accélérant la tension, l'amplification, la luminosité de l'image et la focalisation dans n'importe quel ordre.
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