Occasion HITACHI S-4800 #9257136 à vendre en France

HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie avancée et l'analyse des matériaux et des structures. Il utilise une gamme de sources et de lentilles d'électrons, ainsi que des détecteurs très sensibles, pour obtenir une imagerie et une caractérisation à haute résolution. HITACHI S 4800 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusé et d'un détecteur Everhart-Thornley pour obtenir des informations d'imagerie secondaire appropriées. S-4800 offre des capacités d'imagerie avancées, telles que l'imagerie semi-automatique par faisceau d'ions focalisés (FIB), la lithographie par faisceau d'électrons et un certain nombre d'applications de spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS) et de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). S 4800 dispose également d'une chambre de transfert d'échantillons intégrée, permettant un échange rapide et facile des échantillons. HITACHI S-4800 offre une variété de capacités d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie haute résolution et l'imagerie à grande surface. Il dispose également d'un système d'analyse à haute résolution qui est capable de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) ainsi que de cartographie élémentaire et de phase. Le système intégré de traitement d'image est convivial et offre une variété de fonctions telles que la mesure d'image, l'inversion de phase et les options de filtrage. HITACHI S 4800 dispose également de logiciels avancés pour l'imagerie automatisée, qui améliore la vitesse de balayage, le taux d'acquisition des données, et la précision. S-4800 est conçu pour un large éventail d'utilisateurs, tant dans les milieux de la recherche que dans les milieux industriels. Il est facile à utiliser et peut être personnalisé de différentes façons. La S 4800 offre une gamme de caractéristiques comprenant une variété de systèmes de vide et de porte-échantillons, un détecteur de focalisation dans la colonne et un suppresseur de faisceau d'électrons. Il offre également une gamme de réglages de tension pour l'imagerie fine et une large gamme de paramètres de fonctionnement pour personnaliser des lentilles électromagnétiques et d'autres composants avec une résolution précise. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage HITACHI S-4800 est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie, la caractérisation et l'analyse des matériaux et des structures. Il peut être utilisé pour caractériser des surfaces planes ou courbes dans les applications 2D et 3D. Il combine une gamme de sources d'électrons, de lentilles et de détecteurs pour fournir des capacités d'imagerie haute résolution. En outre, il est convivial et facilement configurable pour la plupart des applications.