Occasion HITACHI S-4800 #9271037 à vendre en France

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ID: 9271037
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) With EDS Magnification: 30x, 800,000x Maximum sample size: 150 mm Accelerating voltage: 1.0 nm (15 kV) 2.0 nm (1 kV) Electron gun: Cold-cathode field emissions electron source Accelerating voltage: 0.5-30 kV (Variable steps 0.1 kV) Sample change: Air lock Detectors: Upper secondary electron detector Lower secondary electron detector EDS Detector Dry vacuum system With Turbo Molecular Pump (TMP) 3-Axes motorized stage With GUI Operating system: Windows XP.
HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'analyse à haute résolution utilisé pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons biologiques, de nanostructures et d'autres échantillons. Cet outil offre une haute résolution de 3 nm, permettant à l'opérateur de visualiser clairement les petites cellules, protéines et autres structures. Grâce à son détecteur à rayons X dispersif d'énergie (EDS) et à son équipement anti-détecteur à haute sensibilité, HITACHI S 4800 SEM peut pénétrer plus profondément dans les couches de l'échantillon pour visionner et analyser clairement des structures même très petites. Le système est équipé d'un canon à émission de champ. Ce canon fournit une plus grande émission d'électrons avec une intensité de courant plus élevée, ce qui lui permet de produire une meilleure qualité d'image, une meilleure résolution et contraste, et des vitesses d'imagerie plus rapides. Le faisceau d'électrons de haute intensité généré par le canon est réglable à une taille de tache allant de 0,5 à 20,0 μ m. S-4800 SEM dispose d'une grande chambre qui peut accueillir des échantillons plus grands que ceux d'une chambre standard, comme des échantillons biologiques et industriels. Avec son choix de détecteurs, cette machine peut être utilisée pour examiner des matériaux magnétiques et non magnétiques. L'instrument est contrôlé par une interface utilisateur interactive intuitive, ce qui facilite le fonctionnement de l'équipement. Cette interface conviviale permet une acquisition d'image efficace à partir de plusieurs directions dans un seul échantillon. L'outil est également livré avec des fonctions automatisées pour trouver rapidement des points fins, comme la mesure de l'épaisseur et de la rugosité de surface. Pour l'imagerie tridimensionnelle, le S 4800 dispose d'un mode de balayage conoïdal qui permet un balayage rapide et peut également filtrer le bruit de fond indésirable. Ce logiciel comprend également des fonctions d'alignement automatique et de couture pour créer rapidement des images panoramiques. HITACHI S-4800 est livré avec les fonctions Auto Focus et Autocontrast incluses, rendant l'actif plus convivial et efficace. Le port vidéo HDTV (High Definition Television) inclus vous permet de visualiser vos images en haute résolution. HITACHI S 4800 comprend également une interface Ethernet rapide et un support vidéo optionnel, ce qui permet aux praticiens de transférer des données vers d'autres ordinateurs, ce qui permet d'économiser énormément de temps. Dans l'ensemble, S-4800 SEM est un microscope électronique à balayage très avancé avec des caractéristiques puissantes pour étudier même les plus beaux détails dans les échantillons biologiques, industriels et nanostructuraux. Ses détecteurs haute résolution et EDS fournissent qualité d'image et clarté d'analyse, et sa chambre polyvalente, son interface utilisateur et ses contrôles EDX rendent le fonctionnement et l'analyse des échantillons plus faciles, plus rapides et plus précis.
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