Occasion HITACHI S-4800 #9351385 à vendre en France

HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant (SEM) qui convient bien pour diverses applications, y compris l'imagerie, l'analyse élémentaire et l'analyse de surface. HITACHI S 4800 dispose d'un mode de pression variable unique, permettant d'observer divers types, tailles et formes de spécimens sans sacrifier les performances. Équipé d'une grande chambre et de hautes capacités de grossissement, S-4800 est capable d'inspecter à la fois grandes et petites caractéristiques d'échantillons complexes tout en fournissant une image haute résolution. S 4800 a un canon d'émission de champ, ce qui augmente la résolution spatiale du microscope. De plus, le pistolet permet une faible contamination métallique de l'échantillon qui est observée, entraînant des images de contraste plus élevées de l'échantillon. Le SEM est équipé d'une caméra standard permettant aux utilisateurs de capturer rapidement et facilement des images de l'échantillon et de les sauvegarder pour une analyse ultérieure. Les images de HITACHI S-4800 peuvent également être utilisées pour des mesures et des calculs automatisés, ce qui en fait un instrument idéal pour la collecte et l'analyse automatisées de données. Pour la cartographie et l'analyse élémentaires, HITACHI S 4800 a une capacité de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). L'EDS permet aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire rapide et non destructive de l'échantillon. L'analyse élémentaire rapide rend S-4800 capable d'identifier et de quantifier différents éléments de l'échantillon rapidement et avec précision. S 4800 dispose également d'un système d'émission thermique (TEM), qui peut mesurer la différence de potentiel de contact (CPD) d'un échantillon, ce qui est essentiel pour comprendre les propriétés des matériaux semi-conducteurs. HITACHI S-4800 offre également des capacités uniques pour l'inspection de surface des échantillons 3D. Son mode de faible grossissement permet aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts de surface sur un échantillon, tandis qu'un grossissement élevé permet une cartographie détaillée de la surface. L'imagerie de surface est améliorée par l'utilisation d'un système EBSD (Electron Backscatter Diffraction) qui permet de cartographier l'orientation de surface d'un échantillon en capturant l'orientation des réseaux cristallins. L'EBSD est également capable de mesurer la souche, la cristallinité et la texture d'un échantillon. HITACHI S 4800 dispose d'une large gamme de fonctionnalités qui en font un instrument idéal pour une variété d'applications. Ses capacités de grande chambre, haute résolution, EDS, TEM et EBSD rendent S-4800 bien adapté pour l'imagerie, l'analyse élémentaire et l'analyse de surface, ainsi que la collecte et l'analyse automatisées de données. S 4800 fournit un microscope électronique à balayage puissant et intuitif qui offre des performances améliorées pour les utilisateurs de tous les niveaux de compétence SEM.