Occasion HITACHI S-4800 #9389829 à vendre en France

HITACHI S-4800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un microscope électronique à balayage à émission de champ conçu pour l'imagerie haute résolution, l'analyse et la caractérisation d'une variété d'échantillons matériels. Le SEM est capable de produire des images à un grossissement allant jusqu'à 50 000 x, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications, telles que la nanotechnologie, l'analyse des semi-conducteurs, la science des matériaux et l'analyse médico-légale. Le HITACHI S 4800 est doté d'une extraordinaire combinaison de capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution, grâce à son canon à émission de champ, à son étage de spécimen et à ses détecteurs haute résolution. Le canon à émission de champ (FEG) est un type spécial de canon à électrons qui émet un faisceau d'électrons à une tension beaucoup plus basse qu'un canon thermionique. Cela augmente la résolution potentielle du SEM, lui permettant de visualiser de petits spécimens et des détails, ainsi que des structures plus grandes avec beaucoup plus de clarté. L'étape d'échantillonnage a un réglage inhabituel, permettant à l'étape de basculer jusqu'à un angle de 35 °, aidant l'utilisateur à visualiser les échantillons sous différents angles et à mieux visualiser les détails difficiles à observer. Le système de détection on S-4800 est un détecteur à haute résolution SE2, un détecteur d'électrons secondaires SE3, un détecteur d'ESB pour les électrons rétrodiffuseurs, un détecteur d'électrons secondaires PBS-SB pour l'analyse structurale et un détecteur de microspots pour l'analyse quantitative. Cette combinaison de détecteurs permet à l'utilisateur d'analyser divers paramètres de l'échantillon, tels que la rugosité de surface, la composition de l'échantillon, les petites tailles, les caractéristiques d'interface, les micro-textures, les topographies de surface, et plus encore. Ils permettent également l'imagerie en mode haute et basse dépression. S 4800 est un système polyvalent qui peut être personnalisé pour répondre aux besoins de toute application de recherche. Plusieurs accessoires en option sont disponibles, dont le module de configuration de la caméra IIT et la chambre ultralow de haute précision. Ce microscope dispose également d'une interface logicielle conviviale qui permet à l'utilisateur d'exploiter facilement le microscope et d'analyser ses données. HITACHI S-4800 est conçu pour fournir une imagerie haute résolution et des fonctionnalités impressionnantes, ce qui en fait un outil précieux pour une variété d'applications de recherche.