Occasion HITACHI S-4800 #9408669 à vendre en France

HITACHI S-4800 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui fournit des images haute résolution et des informations spectroscopiques sur les surfaces et les matériaux. Il est équipé d'une grande chambre optimisée de 600 mm H X 690mm W qui permet un débit d'échantillon plus élevé. Il assure une précision maximale dans l'imagerie des échantillons même avec une structure de surface complexe. HITACHI S 4800 donne des images vives de structure de surface, de composition et de rugosité. Le microscope se compose d'instruments très statiques et immobile qui permettent d'agrandir jusqu'à 300 kV et d'observer des échantillons à partir de vues multiples. Il est incorporé avec une optique électronique avancée et un pistolet d'émission de champ qui génèrent une haute qualité d'images de balayage. De plus, sa résolution atteint jusqu'à 3nm en imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée. En outre, S-4800 est activé avec le spectre et le système d'analyse élémentaire qui offre une grande compréhension de l'élément présent dans le spécimen. Le système est alimenté par les rayons X dispersifs de longueur d'onde, les rayons X dispersifs d'énergie et la diffraction de rétrodiffusion électronique. Ces éléments fournissent un niveau d'analyse plus élevé dans les matériaux échantillons tels que la caractérisation de l'interface entre les matériaux, l'examen de la couche de diffusion, la mesure de la granulométrie, les compositions et les distributions. Divers outils de balayage automatisé sont fournis avec l'équipement de base pour optimiser l'imagerie de l'échantillon. Un balayage manuel sans faille, une imagerie à faible dose et un piquage automatisé des images permettent aux utilisateurs de saisir les détails de l'échantillon dans des conditions discrètes. En conclusion, S 4800 est un microscope électronique à balayage avancé qui fournit des images à haute résolution et des informations spectroscopiques sur la surface de l'échantillon. Son optique électronique sophistiquée, son canon à émission de champ et ses outils automatisés permettent une analyse détaillée de la surface de l'échantillon. Le SEM est le mieux adapté pour les scientifiques qui veulent explorer la structure de surface complexe et la composition des matériaux.