Occasion HITACHI S-5000 #166652 à vendre en France

HITACHI S-5000
ID: 166652
CD Scanning electron microscope (SEM).
HITACHI S-5000 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie haute résolution et la caractérisation des matériaux et des objets. Il a la capacité d'image avec une résolution jusqu'à l'échelle du nanomètre et peut être utilisé pour l'imagerie d'échantillons avec une variété d'options de porte-spécimen. HITACHI S 5000 dispose d'un canon à émission de champ de haute qualité (FEG) qui fournit des électrons à une énergie extrêmement faible (5 kV). Ce faisceau d'électrons de haute luminosité permet une imagerie rapide et précise pour des études détaillées. Une tension d'accélération maximale de 30 kV limite les dommages de l'échantillon, ce qui le rend bien adapté aux échantillons sensibles ou fragiles. S-5000 offre également des fonctionnalités automatisées haut de gamme telles que l'auto-scan et l'analyse vidéo. La fonction auto-scan recherche automatiquement les meilleurs échantillons, tandis que la fonction video scan capture une vue en temps réel de la surface du spécimen. D'autres caractéristiques incluent un système d'auto-défocus pour l'imagerie précise sans le besoin de réglage manuel de la mise au point, ainsi que des capacités avancées de traitement d'image. De plus, le S 5000 est équipé d'un nouveau système d'ouverture objective et d'une taille de chambre sélectionnable. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster facilement la plage de grossissement et la profondeur de champ. Enfin, HITACHI S-5000 est livré avec une gamme de détecteurs, y compris un détecteur SE double, un détecteur BSCE, et un nouveau détecteur d'imagerie électronique secondaire. Ceci permet aux utilisateurs d'obtenir des images très détaillées de différents échantillons et d'accéder à leur composition élémentaire. Dans l'ensemble, HITACHI S 5000 est un puissant microscope électronique à balayage qui est bien adapté à une large gamme d'applications d'imagerie. Ses fonctionnalités polyvalentes et conviviales en font l'un des SEM les plus fiables pour l'imagerie de matériaux à l'échelle nanométrique.
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