Occasion HITACHI S-5000 #293632287 à vendre en France
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ID: 293632287
Style Vintage: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron gun: Cold field emission type
Built-in butter type
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens reduction method
Objective lens: Movable aperture
Stigma toll: 8-Pole electromagnetic system
Deflection coil: 2-Stage
Secondary electron resolution:
0.6 nm Acceleration voltage: 30 kV
30 nm Acceleration voltage: 1 kV
Magnification:
LM Mode: 30x - 500x
HM Mode: 250x - 800,000x
Sample fine movement device:
Side entry method
Movement stage:
X-axis: ± 3.5 mm
Y-axis: ± 2 mm
T-axis: ± 40°
Stage control: Movement speed switched in 3 steps
Sample size: 9mm x 5 mm x 2.4 mm, 9.5 mm x 5 mm x 4.4 mm
Sample exchange: Airlock method
Display:
Secondary electron image
Still image display with built-in image memory
Image memory:
Pixel high-definition memory two sides
Photographing of high-definition 1024 x 1024 image
Real-time TV display of slow scan image
Image integration on TV and first scan
Real-time histogram display
4-Split image display
Acceleration voltage: 0.5–30 kV (0.1 kV step)
2000 vintage.
HITACHI S-5000 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour une variété de matériaux et d'industries. L'équipement dispose d'une colonne électronique à balayage ultra haute résolution avec une résolution analytique jusqu'à 0,8nm, permettant l'imagerie à haute résolution et l'analyse élémentaire. Cette colonne avancée a une tension d'accélération jusqu'à 30 kV et une source d'électrons à refroidissement par eau variable pour assurer un fonctionnement fiable et des résultats d'analyse de qualité. Le système est équipé d'un étage d'échantillonnage à deux positions, permettant de transférer facilement des échantillons entre deux étages prépositionnés et d'échanger facilement des échantillons. L'unité est également équipée d'une fonction double inclinaison, permettant le basculement d'échantillons dans les deux sens pour des applications non orientées. La machine peut être équipée d'une large gamme de détecteurs, pour permettre une imagerie et une analyse avancées, y compris un détecteur Everhart-Thornley et un détecteur électronique rétrodiffusé. Cela permet à l'utilisateur de saisir des informations essentielles sous forme d'images et de données, ainsi que d'effectuer des analyses compositionnelles telles que la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS). De plus, l'outil comprend également une unité automatisée de revêtement chrome/or, permettant le revêtement d'échantillons avant analyse, afin de générer une surface conductrice qui aide à l'analyse. Cet atout comprend également des fonctions de focalisation et de stigillation automatisées, permettant un alignement et un fonctionnement faciles. Enfin, le modèle est équipé d'un contrôleur avancé, offrant un accès à une interface utilisateur intuitive, une gestion facile du workflow et un contrôle avancé des données. En outre, l'équipement est également capable de sortir des données dans une variété de formats standard de l'industrie, permettant une compatibilité avec les logiciels standard de l'industrie. HITACHI S 5000 est un SEM de premier plan conçu pour une variété de matériaux et d'industries. Ses capacités d'ultra haute résolution et ses fonctionnalités avancées en font un choix idéal pour tous ceux qui recherchent des images et des données détaillées, la précision et la répétabilité.
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