Occasion HITACHI S-5000 #293652755 à vendre en France

HITACHI S-5000 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet aux chercheurs de capturer rapidement et efficacement des images détaillées d'un échantillon. L'unité offre une variété de types de capacités et de fonctionnalités à ses utilisateurs. L'unité est équipée d'un émetteur de filament de tungstène qui fournit un faisceau d'électrons avec une plage de tension de travail comprise entre 0,1 et 30kV et une plage de courant de travail de 0,01 à 0,53 N.Amps. Il dispose d'un équipement de contrôle numérique qui permet une grande flexibilité et précision dans la configuration et le fonctionnement de l'expérience. Le centrage automatique du faisceau et la focalisation du SEM sont améliorés par l'utilisation de son étage de précision sous-nanomètre. De plus, le contraste et la résolution de l'image sont améliorés avec ses détecteurs EDS (spectroscopie dispersive d'énergie) et EBSD (diffraction par rétrodiffusion d'électrons). La taille du champ de vision supporté par le SEM est jusqu'à 100mm2 avec une source de rayons X de 3kw et une ouverture à quatre pales. Il a une fonction de contraste variable qui peut être utilisée pour ajuster les images en fonction de l'application et des échantillons avec lesquels il est utilisé. Le grossissement maximal des images capturées avec l'unité est jusqu'à 100.000x avec une résolution de 35nm. L'unité est équipée d'un mécanisme de refroidissement qui peut abaisser la température jusqu'à -45 degrés Celsius pour faciliter le fonctionnement à basse température en cas de besoin. L'interface conviviale du SEM permet un bon contrôle et une bonne observation de l'échantillon. Il comprend une scène motorisée, un panneau LCD à écran tactile multi-langues, une table à moteur à entraînement direct pour les mouvements de balayage rapide, et un appareil photo numérique FPD pour l'imagerie en temps réel. Ce panneau permet également à l'utilisateur d'accéder à divers plugins et paramètres de contrôle pour l'entrée et la sortie de données. Au cœur de HITACHI S 5000 SEM se trouve son système SIMS (seconde spectrométrie de masse ionique) qui fournit des spectres de masse du matériau de l'échantillon analysé. Cette unité est extrêmement utile pour obtenir la composition élémentaire et identifier les caractéristiques de surface. Les systèmes de traitement d'images numériques doubles de S-5000 fournissent des images en temps réel pour l'analyse et la détermination des propriétés quantitatives et qualitatives des échantillons. Enfin, le S 5000 supporte également des fonctions de sécurité essentielles telles que l'arrêt automatique du faisceau d'électrons lors du déplacement de l'échantillon ou du porte-échantillon. Dans l'ensemble, HITACHI S-5000 offre un large éventail de capacités pour aider les chercheurs à capturer des images à haute résolution d'échantillons plus rapidement et avec une précision améliorée. La machine d'imagerie numérique double, la spectroscopie dispersive d'énergie et la diffraction de rétrodiffusion d'électrons, et les fonctions de sécurité sont tous utiles pour garantir que les chercheurs obtiennent des résultats optimaux avec le SEM.