Occasion HITACHI S-5000 #51610 à vendre en France

ID: 51610
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM).
HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil puissant optimisé pour une résolution et une productivité supérieures dans les industries de l'électronique et des matériaux. Ce SEM produit une imagerie haute résolution avec une vitesse et une précision exceptionnelles, ce qui en fait le choix idéal pour l'imagerie de matériaux et d'appareils exigeants. HITACHI S 5000 offre également une gamme impressionnante de capacités d'analyse, ce qui en fait l'un des instruments les plus avancés disponibles. S-5000 est conçu avec un certain nombre de fonctionnalités pour optimiser l'imagerie haute résolution. Au cœur de l'équipement se trouve un détecteur SE haute performance, qui permet des temps d'imagerie plus courts, une résolution plus élevée et un taux de comptage plus élevé que les modèles précédents. Le système comprend également la technologie SuperSpeed Scan Control, qui permet un déplacement plus rapide, plus précis et le placement du motif de balayage à travers le spécimen, entraînant une imagerie de haute qualité avec une perte de résolution minimale. De plus, le SEM comprend un processeur de signal numérique (DSP) pour assurer des mesures plus précises de l'échantillon. Le S 5000 offre une véritable capacité d'analyse quantitative, avec de puissantes solutions logicielles automatisées pour QuickScan et l'analyseur de données. QuickScan offre des fonctionnalités automatisées et faciles à utiliser pour analyser les échantillons plats et permet une imagerie et une analyse plus rapides des échantillons. L'analyse des données fournit des capacités améliorées d'acquisition de données, permettant l'acquisition simultanée d'images et de signaux EDX. Cette caractéristique permet la détection de petites particules, l'analyse d'éléments lourds et l'observation d'un large éventail de propriétés matérielles. HITACHI S-5000 propose également une large sélection de logiciels intégrés et de paquets de programmation conçus pour répondre aux besoins d'un large éventail d'applications. Les options de connectivité comprennent une connexion Ethernet 10/100, un signal numérique E/S et un port USB pour le transfert direct de données. HITACHI S 5000 utilise une variété de détecteurs pour un large éventail de besoins d'imagerie, y compris l'imagerie par électrons secondaires (SE), l'imagerie par ions secondaires (SI), l'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) et l'imagerie par cathodoluminescence (CL). En plus d'une gamme impressionnante de capacités d'imagerie et d'analyses, S-5000 est conçu pour répondre aux exigences de sécurité et d'ergonomie des environnements les plus exigeants. Le poste de travail dispose d'un axe de basculement thêta et d'une unité automatique à cinq axes, ce qui permet d'utiliser le SEM en mode manuel ou automatisé. La machine est équipée d'un moniteur LCD couleur surdimensionné et d'un outil de contrôle manuel intuitif avec des commandes à clé douce et une barre coulissante pour contrôler le courant optique. En conclusion, S 5000 Scanning Electron Microscope est un instrument avancé et puissant, offrant des capacités d'imagerie et d'analyse avancées pour les applications les plus difficiles. Sa conception robuste et ses caractéristiques de sécurité offrent des performances fiables dans une grande variété d'environnements de travail, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie et l'analyse de précision.
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