Occasion HITACHI S-5000 #9097826 à vendre en France

HITACHI S-5000
ID: 9097826
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1994
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8" Metro system 1994 vintage.
HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope est un outil d'analyse de pointe utilisé pour l'analyse de matériaux jusqu'à l'échelle nanométrique. Cet outil convient à une variété de matériaux tels que métaux, polymères, semi-conducteurs et plus encore. Il dispose d'un canon à électrons à longue distance d'émission de champ de travail (FEG), qui permet une excellente qualité de tache et des images de haute résolution. Le microscope dispose également d'un système à vide élevé pour une large gamme de capacités analytiques telles que la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). HITACHI S 5000 propose deux modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie de transmission par balayage. Le mode d'imagerie électronique secondaire est d'obtenir des images à haute résolution de surfaces avec un grossissement maximum de 120 000 fois. Le deuxième mode d'imagerie, le mode de transmission par balayage, fournit une vue agrandie de l'échantillon et peut être utilisé pour l'analyse moléculaire. Le détecteur d'électrons secondaire permet un faible contraste et une haute résolution spatiale de la surface de l'échantillon, tandis que le régulateur automatique de courant du faisceau assure que l'échantillon n'est pas endommagé. Parmi les autres caractéristiques de S-5000 figurent ses capacités d'analyse environnementale, telles que le fonctionnement étanche à l'air, l'observation des basses vibrations et le contrôle de la température. Le microscope dispose également d'un système unique d'automatisation des échantillons, qui peut être utilisé pour effectuer un large éventail d'expériences sans avoir à échanger des échantillons manuellement. Ce système fournit également une excellente plate-forme pour la microscopie corrélative, qui est une technique analytique utilisée pour combiner microscopie électronique, radiographie X et microscopie optique à fluorescence. S 5000 Scanning Electron Microscope dispose de toutes les fonctionnalités nécessaires pour obtenir des images de haute qualité et des données analytiques sur un large éventail de matériaux. Avec un canon à électrons à émission longue distance de travail grand angle, associé à des modes d'imagerie double et des capacités d'analyse environnementale, cet outil est le choix idéal pour une variété d'applications analytiques.
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