Occasion HITACHI S-5000 #9134032 à vendre en France

HITACHI S-5000
ID: 9134032
Taille de la plaquette: 8"
FE-SEM, 8".
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-5000 est un puissant outil d'analyse capable d'imagerie haute résolution et de détecter des différences extrêmement faibles dans les structures des échantillons. Ce microscope est capable d'imiter des échantillons avec une résolution inférieure à 1 nanomètre et d'utiliser son Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDXA) pour spectre et analyser la composition élémentaire des échantillons sans causer de dommages à l'échantillon. La capacité d'image et d'analyse à une si petite échelle fournit une mine d'informations aux chercheurs dans de nombreuses disciplines. L'opérateur de HITACHI S 5000 dispose d'une large gamme de contrôles sur les paramètres de réglage et d'imagerie de l'instrument à partir de son panneau de contrôle convivial. Un système de lentilles électrostatiques est utilisé pour contrôler le faisceau d'électrons qui est utilisé pour scanner et d'images d'échantillons. Bien que la focalisation automatique du faisceau puisse être utilisée, l'opérateur peut également choisir de régler manuellement la focalisation du faisceau pour optimiser leur imagerie. La tension du faisceau peut également être ajustée pour obtenir des niveaux de grossissement désirés sans altérer l'échantillon. S-5000 peut être utilisé à différentes étapes de la préparation de l'échantillon, permettant des images des échantillons avant et après traitement ultérieur. Par exemple, des échantillons peuvent être extraits d'une chambre à vide et ensuite imagés sur S 5000. Cela peut être particulièrement utile pour examiner les résultats des techniques de remplissage par infiltration des échantillons utilisées par de nombreux scientifiques du domaine des matériaux. HITACHI S-5000 est équipé de deux détecteurs qui peuvent être utilisés pour détecter les électrons secondaires émis pour former des images d'échantillons. Le premier détecteur est optimisé pour détecter des électrons secondaires standards qui peuvent fournir une vue topographique détaillée des échantillons. Le deuxième détecteur est conçu pour détecter des électrons rétrodiffusés qui fournissent un type différent de formation d'image. La combinaison de ces deux détecteurs offre une vue unique d'un échantillon qui peut révéler des caractéristiques qui n'ont pas pu être observées avec chaque détecteur individuellement. Cette polyvalence, combinée à la petite taille et à la haute résolution du microscope font de HITACHI S 5000 un instrument idéal pour une large gamme de besoins de caractérisation d'échantillons.
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