Occasion HITACHI S-5000 #9144799 à vendre en France

HITACHI S-5000
ID: 9144799
Taille de la plaquette: 8"
Field emission semi electron microscope (FESEM), 8".
HITACHI S-5000 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument sophistiqué conçu pour l'imagerie de petites caractéristiques d'un échantillon à des résolutions extrêmement élevées. Il utilise un faisceau d'électrons focalisés pour interagir avec l'échantillon et produire une image électronique secondaire et/ou rétrodiffusée. L'optique électronique du SEM utilise une variété de lentilles pour focaliser le faisceau d'électrons sur l'échantillon, ce qui permet des vues d'agrandissement élevées de l'échantillon. HITACHI S 5000 dispose également d'un étage d'échantillonnage automatisé avec alignement virtuel, permettant des images claires et claires à différents niveaux de grossissement et de résolution. S-5000 dispose d'une grande variété d'options d'imagerie, permettant de prendre des images à différentes résolutions et grossissements, avec des niveaux élevés de contraste pour une identification facile de détails plus fins. Il utilise deux types de sources d'électrons : un canon E-Gun et un canon d'émission de champ Schottky, qui sont continuellement surveillés et ajustés pour optimiser la résolution. En outre, l'instrument est équipé d'un monochromateur haute résolution pour éliminer les aberrations chromatiques, fournissant des images encore plus vives pour un plus large éventail de matériaux d'échantillonnage. Pour améliorer encore la qualité de l'image, la colonne électronique de S 5000 dispose d'un puissant système d'alignement automatisé pour assurer la focalisation précise de l'objectif et la collecte du signal. Pour ceux qui travaillent avec des échantillons extrêmement sensibles aux courants d'air ou à la chaleur, HITACHI S-5000 dispose d'une chambre pré-balayage scellée, assurant des conditions de vision stables et éliminant la nécessité de mesures de contrôle environnementales supplémentaires. De plus, le SEM comprend un système d'optique noir et blanc basé sur PC pour l'interprétation automatique des résultats, tirant les hypothèses de l'interprétation manuelle des données. En termes de sécurité, HITACHI S 5000 dispose d'un rinçage au xénon de l'ensemble du système qui minimise le risque de contamination de l'échantillon en fournissant une atmosphère inerte. De plus, l'instrument est équipé d'un dispositif antistatique pour réduire le potentiel d'endommagement électrostatique des échantillons. Dans l'ensemble, S-5000 est un outil précieux pour parvenir à des résolutions extrêmement élevées avec un minimum d'efforts, avec la certitude que les résultats obtenus sont fiables et valides. Avec ses nombreuses fonctionnalités pratiques, c'est un choix idéal pour tout laboratoire à la recherche d'une qualité d'image maximale à partir des dernières avancées en microscopie électronique à balayage.
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