Occasion HITACHI S-5000 #9382984 à vendre en France

ID: 9382984
Style Vintage: 1996
Scanning Electron Microscope (SEM) 1996 vintage.
HITACHI S-5000 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution d'une variété de types de spécimens. Le microscope dispose d'une haute tension d'accélération - jusqu'à 200 kV - et dispose d'une grande chambre qui peut accueillir des échantillons jusqu'à 25 mm de diamètre et monté sur des supports SEM. La combinaison de l'imagerie haute résolution et de la grande taille de l'échantillon fait HITACHI S 5000 un choix idéal pour une variété d'applications d'imagerie, y compris la recherche sur les matériaux, l'analyse des défaillances et les études de microélectronique. S-5000 est équipé d'une source d'électrons FEG (field emission gun) froide avec un filament W qui fournit des performances très fiables et stables pour une gamme de tensions d'accélération. La couverture poussiéreuse du canon assure une protection fiable contre la contamination de l'environnement, tandis que la conception robuste du canon assure une dérive minimale, permettant des images nettes et cohérentes. Le SEM comprend un équipement scintillateur segmenté de grande surface (jusqu'à 340 mm) pour la détection des électrons émis, fournissant une détection de sensibilité élevée des échantillons sur tous les grossissements. Le système optique dispose d'une paire de lentilles à ouverture variable avec une focale variable de 32-200 mm, permettant à l'utilisateur de changer rapidement le grossissement de l'image avec un seul bouton moleté. L'unité scintillatrice segmentée permet d'augmenter le courant du faisceau qu'un détecteur non encombré, ce qui réduit le temps d'exposition aux électrons pour les applications d'imagerie à grande vitesse. Pour l'analyse élémentaire, S 5000 est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS). La machine EDS utilise cinq éléments détecteurs de semi-conducteurs d'oxyde pour acquérir des spectres de rayons X, permettant à l'utilisateur d'obtenir une analyse élémentaire quantitative des images numériques. L'outil EDS est également équipé d'une large gamme de filtres, permettant à l'utilisateur d'ajuster la sensibilité du signal pour une gamme d'éléments avec des énergies de 0,1 à 15 keV. La microscopie présente l'avantage important d'une interface numérique, permettant la connexion à des ordinateurs ou à d'autres éléments de l'actif. Combiné aux logiciels d'acquisition et aux capacités de traitement de données, cela fait de HITACHI S-5000 un instrument idéal pour l'analyse et l'imagerie. En outre, la flexibilité du logiciel fournit une interface graphique utilisateur (interface graphique) facile à utiliser, ainsi qu'un passage facile pour une gamme d'opérations. HITACHI S 5000 dispose également d'une gamme de processus automatisés qui supportent la procédure de balayage d'échantillons, tels que la focalisation automatique et les pieds réglables sur le corps principal du SEM qui permettent à l'utilisateur de prouver de manière fiable des échantillons. Cette fonctionnalité fait de S-5000 un choix idéal pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin d'un microscope électronique à balayage fiable et performant.
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