Occasion HITACHI S-5000H #9163121 à vendre en France

ID: 9163121
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 0.6 nm at 30 kV 3.5 nm at 1 kV Magnification: 30- 500x Low magnification speed: 30-500x High magnification speed: 250-800000x Electron gun: Cold field emission source Lens system: (3) Stage electromagnetic lenses Objective: (4) Openings Specimen exchange: Airlock type Stage electromagnetic types: Stigmator (X,Y) (2) Scanning coils Specimen stage: Side entry type Motion: X: ±3.5 mm Y: ±2 mm Tilt: ±40ºC Specimen size: Standard holder size: 9.5 mm x 5 mm x 2.4 mm Large specimen holder size: 20 mm x 6 mm x 2.4 mm Power supply: 0.5-30 kV in 100 V.
HITACHI S-5000H est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui combine une vitesse d'imagerie améliorée et des capacités d'imagerie à haute résolution. Ce SEM offre une variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie haute résolution, l'imagerie haute fréquence et l'imagerie haute vitesse, pour répondre aux exigences d'un large éventail d'applications. Il offre également une capacité unique d'image des signaux électroniques secondaires (SE) qui sont recueillis par la colonne électronique. Grâce à ses capacités analytiques avancées, il est bien adapté à un large éventail d'applications de recherche, y compris la caractérisation des matériaux, des dispositifs et de la recherche en sciences de la vie. Cet instrument haut de gamme offre une variété de fonctions et de capacités avancées qui permettent une imagerie et une analyse supérieures. Parmi ses caractéristiques figurent une large gamme de mouvements d'étages d'échantillons (jusqu'à 50 mm/s avec une portée maximale de 170 mm), un système d'optique multi-vues à plate-forme ouverte, un étage d'échantillons haute résolution à cinq axes et un contrôleur d'échange automatique d'échantillons (ASEX). Il utilise également une source d'électrons d'émission de champ pour fournir la luminosité et la résolution les plus élevées possibles pour l'imagerie. HITACHI S 5000H utilise une technologie propriétaire de correction d'image appelée Dynamic Space Warp Correction (DSWC), qui corrige les aberrations causées par les différents éléments de lentille qui composent la colonne d'électrons. Cela permet des images de haute qualité avec pratiquement aucune distorsion. En outre, le contrôleur ASEX est conçu pour amener la précision et la vitesse à un nouveau niveau en permettant au système de passer entre plusieurs spécimens avec une seule touche. Il permet également une manipulation automatisée de l'échantillon à grande vitesse avec un alignement répétable de l'échantillon. S-5000 H est également équipé d'un filtre d'énergie intégré pour la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). Cette caractéristique permet une analyse quantitative des éléments au niveau nanométrique pour étudier la composition des matériaux, fournissant des données précieuses sur la structure cristalline et les propriétés chimiques. En plus des fonctionnalités avancées mentionnées ci-dessus, S 5000H est équipé d'une large gamme de logiciels d'imagerie qui permet à l'utilisateur de faire fonctionner le système avec facilité. Les opérateurs sont en mesure de contrôler une variété de fonctions pour l'imagerie et l'analyse optimisées d'une variété d'échantillons. Il offre également une gamme d'options analytiques comme le balayage automatisé pour l'imagerie ou les mesures analytiques, l'imagerie de surface automatisée et la mesure d'épaisseur automatisée. Dans l'ensemble, S-5000H fournit un niveau de performance, de polyvalence et de convivialité exceptionnel requis pour un microscope électronique à balayage sophistiqué. Grâce à l'amélioration de l'imagerie et des fonctions automatisées, HITACHI S-5000 H est idéal pour une gamme d'applications allant de la recherche de matériaux et d'appareils à la recherche en sciences de la vie.
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