Occasion HITACHI S-5000H #9221584 à vendre en France
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Vendu
ID: 9221584
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
Vertical scanning electron microscope (SEM), 8"
Display unit:
Monitor
Photo unit
HV Tank
Column unit:
TMP
Head AMP
Heater unit
Power supply:
DC Power unit
Objective lens power
TMP Unit
IP Power unit
Power supply unit
W-4030 Water circulatory
Air compressor
(2) R-Pumps
Accessories:
Ion pump power supply
Tool box
(4) Sealing units
EMI Compensation system
Anti-vibration table
(3) Cables
Manuals
1998 vintage.
HITACHI S-5000H est un microscope électronique à balayage (SEM) qui combine l'imagerie haute résolution avec un système d'analyse à grande vitesse. Ce SEM possède une caractéristique unique appelée « Hybrid Image Technology » qui intègre deux fonctions pour l'acquisition d'images : l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée pour améliorer les performances signal-à-bruit. Il a un grossissement allant de 1000 à 1.000.000 fois avec une résolution aussi faible que 0,2 nanomètres à 30kV, ce qui donne une imagerie à haute résolution de l'échantillon. De plus, le cycle de vie de la source d'électrons est prolongé avec la commande focale réglable automatiquement. HITACHI S 5000H a une sortie de signal numérique monochrome haute dynamique de 16bits, avec une sortie de signal analogique de 64Vpp. Cela permet une gamme de caractéristiques d'image incluant le contraste, la luminosité et l'inversion d'image. Les données BRUTES de 8bit/16bit, les données RVB, les données 3D, les données SIG et d'autres nouvelles données d'analyse d'image sont toutes possibles avec ce SEM. Il dispose également d'une large gamme de fonctions de commande de mouvement, telles que les fonctions d'inclinaison, de décalage et de rotation. L'étage a une taille d'échantillon allant jusqu'à 45 mm de diamètre, de sorte que les grands échantillons peuvent être analysés facilement. Une table anti-vibrations réduit les vibrations provenant de sources extérieures, garantissant une résolution d'image de haute qualité. En outre, des fonctionnalités avancées telles que l'Auto Adjustment, Intelligent Lens Control System et le refroidissement en temps réel font de ce SEM un instrument polyvalent. La fonction Auto Adjustment élimine l'erreur humaine en détectant et ajustant automatiquement les paramètres du détecteur pour une qualité d'image optimale, tandis que le système Intelligent Lens Control System sélectionne la lentille source d'électrons la plus appropriée en fonction des conditions de l'échantillon examiné. La fonction de refroidissement en temps réel maintient la température de l'échantillon à un niveau constant, ce qui permet d'imaginer correctement l'échantillon sans dommages. Enfin, l'interface graphique conviviale permet une navigation et un fonctionnement faciles rendant S-5000 H simple à utiliser. Ce SEM très avancé est un instrument idéal pour l'imagerie d'échantillons à l'échelle nanométrique et l'acquisition rapide d'images.
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