Occasion HITACHI S-520 #187760 à vendre en France

HITACHI S-520 Scanning Electron Microscope (SEM) est l'un des outils d'imagerie les plus avancés utilisés en analyse de surface et de matériau. Il peut agrandir jusqu'à 230 000 fois et offre une large gamme de fonctionnalités avancées utiles. Ce type de microscopie utilise un faisceau focalisé d'électrons pour générer une image très détaillée, qui peut révéler des structures internes d'échantillons jusqu'à un niveau submicronique. Le système dispose d'un large éventail d'options de détecteurs directs, y compris un détecteur à rayons X dispersifs d'énergie (EDX) pour l'analyse élémentaire, un détecteur à électrons secondaires pour l'imagerie, un détecteur à transmission d'électrons pour l'imagerie électronique rétrodiffusée et un détecteur spécial à rayons X dispersifs d'électrons (EDX) pour l'analyse des particules. S-520 peut également être utilisé pour de nombreux matériaux, notamment des métaux, des céramiques, des composites, des semi-conducteurs, des nanostructures et des échantillons biologiques. Les détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) et secondaires (SE) peuvent être utilisés pour détecter la topographie de surface ou la cartographie des défauts, tandis que le détecteur EDX permet à l'utilisateur d'acquérir des données élémentaires et d'effectuer une analyse chimique de l'échantillon. La chambre HITACHI S-520 est maintenue à vide élevé pour réduire la contamination de l'échantillon et améliorer la clarté de l'image observée. Il est également équipé de fonctions puissantes telles que l'auto-inclinaison et l'autocollimation à grande vitesse afin que l'orientation de l'échantillon puisse être ajustée pour obtenir une imagerie optimale. S-520 prend en charge la numérisation et l'imagerie d'échantillons manuelles et automatisées, ce qui améliore considérablement sa capacité à acquérir de grandes quantités d'images à haute résolution dans un laps de temps limité. Le système est compact et hautement personnalisable, avec une large gamme d'accessoires optionnels, tels qu'une unité de refroidissement, un étage à haute température, et un éliminateur de charge. L'interface logicielle est conviviale et peut être adaptée aux besoins de l'utilisateur. Dans l'ensemble, HITACHI S-520 Scanning Electron Microscope est un outil d'imagerie flexible et très efficace qui permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser la structure interne de divers matériaux, de la macro au micro. Ses capacités de haute résolution et sa large gamme de fonctionnalités avancées en font un instrument idéal pour une variété d'applications scientifiques et industrielles.